Sistema de inspeção com semicondutor MXI QUADRA™ 7 Pro

por raios Xautomáticode medição

A série Quadra™ Pro cria imagens incríveis de altíssima resolução. O tubo de raios X Dual Mode NT4 de alto desempenho projetado internamente e o detector Onyx fornecem visibilidade até mesmo dos mínimos detalhes e a localização imediata dos defeitos. Tudo fica evidente. O Quadra™ 7 Pro estabelece um novo padrão para inspeção manual 3D/2D com uma resolução mais alta para aplicações back-end de semicondutores. Equipado com a revolucionária tecnologia de detector Onyx®, proporciona excepcional clareza de imagem e níveis de ruído reduzidos, elevando a experiência de inspeção aos mais altos níveis de precisão e eficiência. O Quadra 7 Pro vem com o mais recente tubo Dual Mode Quadra NT4®, que oferece aos usuários a máxima flexibilidade. Esse recurso inovador oferece modos de brilho e resolução, permitindo que os operadores alternem dinamicamente entre eles com base nos requisitos específicos da aplicação. Além do hardware avançado, o Quadra 7 Pro também vem com o software Revalution™, desenvolvido recentemente. Projetado especificamente para aplicações de semicondutores de ponta, o software Revalution™ aprimora a experiência do usuário com uma interface intuitiva, fluxo de trabalho otimizado e funcionalidade expandida. Ele permite que os operadores analisem e interpretem com eficiência os dados de inspeção, contribuindo para uma tomada de decisão mais rápida e melhor produtividade geral. O QuadraNT™ é o que está por trás do Quadra Pro. A fonte de raios X de última geração da Nordson tem outra melhoria com Dual Mode automático com patente pendente no Quadra 7 Pro. O tubo alterna automaticamente entre dois modos: