Micrômetro LED OptiMike™

ópticode espessurasem contato

Visão geral
O micrômetro óptico OptiMike oferece medição direta, monolateral e sem contacto de espessura para chapas não metálicas e filmes espessos em aplicações em linha. A técnica óptica é insensível à cor, densidade, brilho ou transparência. Uma matriz de LED projeta um feixe sobre o ápice do produto colocado num rolo de referência de precisão com baixa excentricidade; uma matriz micrométrica CCD detecta a interrupção do feixe (superfície superior) com resolução submicrónica. Um sensor de correntes parasitas integrado mede a distância sensor–rolo e os dados são combinados para calcular a espessura total em tempo real.

Principais características

• Medição sem contacto, monolateral, adequada para aplicações em linha sobre web
• Tecnologia não nuclear (sem fonte radioativa)
• Insensível à cor, densidade, brilho ou transparência do produto
• Pode ser combinado com sensores de peso para cálculo de densidade
• Projeto orientado à facilidade de manutenção e integração na linha

Técnica de medição
O sensor utiliza uma matriz LED para projetar luz sobre o ápice do produto num rolo de referência de precisão. Uma matriz micrométrica CCD na face oposta localiza a aresta de sombra para determinar a posição da superfície superior com precisão submicrónica. Um sensor de correntes parasitas integrado mede a distância ao rolo; o sistema funde leituras CCD e de correntes para fornecer espessura absoluta em linha para controlo de processo e QA.

Aplicações

• Extrusão de filmes e chapas
• Produção de chapas de espuma
• Conversão de borracha e plástico
• Chapas calandradas e webs revestidos
• Não-tecidos e têxteis técnicos
• Materiais para fechos hook-and-loop
• Compósitos e laminados
• Controlo de web na indústria do tabaco

Características / especificações técnicas

• Método de medição: Óptico (matriz LED + micrômetro CCD) combinado com referência por correntes parasitas
• Configuração: Medidor de espessura monolateral direto, em linha, para aplicações em web
• Materiais adequados: Chapas não metálicas, filmes, espumas, não-tecidos, compósitos
• Resolução: Detecção da superfície superior em gama submicrónica (CCD)
• Elemento de referência: Rolo de precisão com baixa excentricidade
• Integração: Compatível com sensores de peso e sistemas de controlo de processo
• Tipo de medidor: Micrômetro óptico sem contacto, não nuclear