Espectrômetro de emissão óptica VeOS

de emissão óptica por centelhamentode laboratóriopara análise

Com tecnologia de ponta de detecção baseada em detectores semicondutores especialmente desenvolvidos para espectroscopia de emissão, o espectrômetro de emissão de centelhas VeOS da OBLF permite uma análise versátil, flexível e rápida de todos os materiais metálicos comuns. O espectro analítico também inclui a análise precisa de elementos de comprimento de onda curto como nitrogênio ou baixo carbono. BenefíciosInclusão completa e flexível de todas as tarefas analíticasCaracterísticas facilmente extensíveisA tecnologia de detecção mais recente e especialmente desenvolvidaExcelente desempenho no que diz respeito ao limite de detecção, precisão, estabilidadeRobust design para uso em ambientes de trabalho pesadoO VeOS da OBLF é o primeiro espectrômetro de centelha a apresentar um sistema detector baseado em semicondutores cujo desempenho analítico - incluindo a resolução espectral necessária para um espectrômetro de laboratório - é tão bom quanto os sistemas baseados em fotomultiplicadores estabelecidos. Esta nova tecnologia de fotodetecção foi desenvolvida especificamente para espectroscopia de emissão de faíscas e garante excelentes resultados em toda a faixa de comprimento de onda requerida de 130 a 800 nm. O desenho dos detectores sensíveis à luz, que se caracterizam por uma superfície 100 vezes mais sensível à luz do que os detectores encontrados em sistemas convencionais, foi especialmente adaptado às exigências da espectroscopia de emissão.