Sistema de inspeção para superfícies de vidro GIS 640 R series

de infravermelhoIVFPA

O vidro de baixa emissividade (Low-E), concebido para melhorar a eficiência energética dos edifícios, apresenta desafios significativos para os dispositivos tradicionais de infravermelhos (IR), que medem a temperatura do vidro a partir de cima, à medida que os painéis saem do forno. Comumente usado para janelas e componentes de fachada, o vidro Low-E é tipicamente construído como vidro isolante de múltiplos painéis com um revestimento de emissividade muito baixa. Esta baixa emissividade complica a medição exacta da temperatura do vidro por dispositivos tradicionais de scanner de linha de infravermelhos, uma vez que estes geralmente visam o lado revestido a partir de cima, levando a potenciais imprecisões nas leituras de temperatura e a problemas de controlo de qualidade. O Sistema de Inspeção de Vidro Top-Down (Top-Down GIS) foi desenvolvido para resolver este problema. Este sistema tem como objetivo fornecer medições precisas da temperatura do vidro Low-E durante a produção. Ao contrário do GIS de baixo para cima, que mede por baixo do vidro, o GIS de cima para baixo mede por cima enquanto usa um pirómetro de referência adicional por baixo para corrigir a emissividade. Esta abordagem de medição dupla assegura que as superfícies defeituosas ou não homogéneas podem ser detectadas e permite ajustes no aquecimento ou arrefecimento com base na distribuição da temperatura, assegurando uma óptima qualidade e consistência na produção de vidro. A referência a partir de baixo é necessária por duas razões: o lado superior revestido do vidro tem baixa emissividade, dificultando a medição precisa, e muitas vezes não há espaço suficiente para as câmaras medirem a partir de baixo devido à baixa altura do forno. Esta configuração exigiria mais do que uma câmara, e uma visão de grande angular poderia influenciar as medições de forma diferente.