Profilômetro óptico UA3P series

3Dde força atômicacom estilete

A série de perfilómetros UA3P da Panasonic foi concebida para medir lentes e moldes asféricos, bolachas semicondutoras e qualquer outro componente de precisão que exija uma precisão de nível nanométrico até 200 mm x 200 mm. Estão disponíveis diferentes modelos de máquinas para satisfazer as suas necessidades de metrologia ótica e de elevado rácio de aspeto. A UA3P-300, a UA3P-4 e a UA3P-5 oferecem aos utilizadores a precisão da tecnologia AFM com a gama de medição de uma CMM. A nossa abordagem única utiliza a tecnologia de sonda de força atómica na caneta e o posicionamento do eixo XYZ interferométrico baseado em laser HeNe. Juntando esta tecnologia a uma base sólida de granito, obtém-se um sistema de metrologia robusto que pode ser utilizado no chão de fábrica e que, ainda assim, proporciona um nível de incerteza total de 0,1um. - O UA3P pode medir lentes asféricas e espelhos de forma livre e respectivos moldes, que são essenciais para a eletrónica digital de consumo, como telemóveis, DSCs, DVDs e gravadores Blu-ray, bem como para a segurança doméstica, comunicações ópticas e veículos H - Medição ultra-precisa em apenas 3 minutos - Geração automática de programas NC - Extensa biblioteca de software opcional - A operação fácil permite um feedback rápido para a maquinagem Dimensões exteriores (L x P x A) mm 700 x 780 x 1.500 Massa do corpo principal 700 kg (Outros: 150 kg) Gama de medição (eixos X, Y, Z) mm 30x30x20 Área de colocação do objeto medido (eixos X, Y, Z) mm 100x100x100 Sonda de medição AFP Resolução 0.3nm Ângulo de inclinação máx. Ângulo de inclinação para medição da superfície superior 75º Precisão da medição com a sonda de superfície superior 30° máx.: ±0,05 µm (ida e volta) 45° máx.: ±0,08 µm (ida e volta) 60° máx.: ±0,15 µm (ida e volta) 70° máx.: ±0,15 µm (ida e volta) *Ao utilizar a agulha de rubi padrão ou a agulha de cerâmica