Câmera para wafers
de visão industrialde infravermelhoInGaAs

câmera para wafers
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Características

Aplicações
para wafers
Função
de visão industrial
Espectro
de infravermelho
Outras características
InGaAs

Descrição

As câmeras SWIR de infravermelho de onda curta InGaAs oferecem resolução 640x512 com resposta de até 1,7 µm. A câmera SWIR de alta resolução pode ser usada para uma grande variedade de aplicações, incluindo perfil de feixe laser, inspeção de semicondutores, imagens hiperespectrais, controle de processo on-line, imagens de baixo nível de luz e triagem de células solares. Para o rastreio de células solares, os defeitos na fase de processamento inicial podem ser visualizados através do silício a granel, graças à sua transparência em comprimentos de onda superiores a 1,1 µm. Rachaduras, áreas mortas ou de resposta fraca são reveladas em wafers fatiados, permitindo a classificação automática / seleção das melhores peças. A câmera finalmente captura emissões de eletroluminescência (EL) e fotoluminescência (PL) de células fotovoltaicas individuais que são diretamente proporcionais à sua eficiência As câmeras SWIR de alta resolução da Photonic Science podem ser fornecidas com óticas SWIR de última geração, que proporcionarão resolução superior / modulação de contraste e menor distorção do que as óticas NIR convencionais que são usadas com câmeras CCD convencionais Principais Características - Digitalização de 14 bits / Processamento de imagem de 16 bits - Leia o ruído - até tipicamente 200 fps - Com Região de Interesse ROI - Excelente linearidade - Resposta a diferentes intensidades e/ou exposições - Interface Gigabit Ethernet e Camera Link - Opção de software - Kit SDK, Labview VI's

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