- Metrologia - Laboratório
- Metrologia e Ensaios
- Scanner 3D
- Princeton Applied Research
Sistema de escaneamento 3D VS-OSPpara medição dimensionalde perfisa laser
Guardar nos favoritos
Comparar
Características
- Número de eixos
- 3D
- Aplicações
- para medição dimensional, de perfis
- Tecnologia
- eletroquímico
- Distância de leitura
10 mm
(0 in)
Descrição
O VersaSCAN OSP integra a Base com um sensor de deslocamento a laser de alta precisão e alta velocidade. A técnica OSP utiliza mecanismo de reflexão difusa para medir a topografia de uma amostra. OSP pode ser usado para medir topografia, como um mecanismo de nivelamento muito sensível, ou topografia gráfica a ser implementada com outras técnicas de sonda de varredura para operação em modo de distância constante.
---
Catálogos
Não estão disponíveis catálogos para este produto.
Ver todos os catálogos da Princeton Applied ResearchOutros produtos Princeton Applied Research
Scanning Electrochemical Systems
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.