O sistema de TC microfocal para inspeção de raios X de PCBs offline SE-PCT01 tira partido das caraterísticas de emissão de impulsos de alta resolução e do elevado brilho do tubo de TC de nanotubos de carbono.
Um método de monitorização da qualidade para encontrar defeitos ocultos em placas de circuitos.
O sistema de TC microfocal de inspeção de raios X de PCB offline SE-PCT01 tira partido das caraterísticas da emissão de impulsos de alta resolução e do elevado brilho do tubo de TC de nanotubos de carbono, um algoritmo de reconstrução de TC iterativo baseado na deteção comprimida. As imagens tomográficas de várias camadas, incluindo imagens tridimensionais de amostras, podem ser construídas num curto espaço de tempo e as amostras podem ser modeladas, analisadas e detectadas com rapidez e precisão.
Fonte de raios X/strong>
- Tensão de trabalho: 90~150 KV
- Tamanho da focagem: 3~15 μm (opcional)
- Corrente de trabalho: 10~ 150 μA
- Tipo de tubo de luz: Tubo fechado
ESPECIFICAÇÕES GERAIS
- Tipo: Painel plano digital
- Tamanho do pixel: 49,5 μm (opcional)
- Número de pixéis: 2304 x 2940 (opcional)
- Área de imagem: 114 x 146 mm (opcional)
- Escala de cinzentos: 14/16 bits
- Resolução do sistema: 2,5 μm
- Dimensões padrão: 1325 x 1010 x 1650 mm
- Peso total: 800 kg
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