Analisador de oxigênio DF-560E NanoTrace II

de monitoramentopara controle da qualidadede vestígios

Com um Limite Inferior de Deteção (LDL) de 45 partes por trilião (ppt), o DF-560E fornece à indústria de semicondutores as melhores medições de oxigénio (O2) para controlo de qualidade em gás de grau eletrónico de pureza ultra-alta (UHP). Medições coulométricas de traços e percentagens de alta estabilidade Uma solução sem compromissos Manutenção simples e custos contínuos reduzidos Concebido para medir o ultra-traço de O2 até aos níveis mais baixos, o DF-560E proporciona à indústria de semicondutores um LDL de 45ppt líder na indústria. Flexível e adaptável, é capaz de monitorizar O2 em vários gases de fundo enquanto regista dados numa variedade de formatos. O DF-560E elimina os efeitos de aplicações propensas a perturbações, graças à tecnologia de deteção coulométrica de alta estabilidade da Servomex, que proporciona uma rápida velocidade de resposta na presença de alterações na amostra e na taxa de fluxo. Concebido para facilitar a utilização Ideal para fábricas de semicondutores e carrinhos de análise, o DF-560E foi optimizado para ser fácil de utilizar e portátil. A operação é efectuada através do painel frontal ou de comunicações digitais, enquanto as opções de transporte manual facilitam o seu transporte. O DF-560E também reduz os custos operacionais através da sua tecnologia Coulométrica não esgotável e calibrada de fábrica, proporcionando uma instalação e configuração económicas. O único requisito de manutenção contínua é uma calibração anual do intervalo, sem necessidade de substituição da célula programável. Medições coulométricas de traço e percentagem de alta estabilidade