Medidor de espessura estacionário SK-tFTM-IR series
de filme plásticopara material em folhaspor refletância espectral

medidor de espessura estacionário
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Características

Tipo
estacionário
Material tratado
de filme plástico, para material em folhas
Tecnologia
por refletância espectral
Gamas de medição

MÁX: 1.650 nm

MÍN: 950 nm

Descrição

Os monitores de espessura de chapa por infravermelhos medem a espessura de chapas translúcidas, tais como separadores de baterias, revestimentos pouco reflectores, tais como resistência negra, e silício. O sistema de absorção de infravermelhos consiste numa sonda de espelho compacta com um sistema óptico transmissivo, que permite a medição simultânea de múltiplos parâmetros, como a espessura da película, a densidade e a composição em mais de 100 comprimentos de onda. 1 Mede a espessura de folhas translúcidas, películas de baixo reflexo, silício, etc., o que era difícil com a interferometria óptica 2 Sonda compacta Ao adoptar uma pequena sonda reflectora de 30 mm, pode ser instalada num espaço reduzido em equipamentos ou linhas de produção. Além disso, como a sonda está ligada ao corpo principal apenas por um cabo de fibra óptica, tem uma excelente resistência ambiental. 3 Medição de alta velocidade Amostragem simultânea de comprimentos de onda de infravermelhos próximos de 950 nm a 1650 nm em 100 pontos ou mais 4 Reprodutibilidade da medição da espessura 0,1% ou menos (3σ) 5 Algoritmos de medição

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