Difratômetro de raios X ADX-2700

para produtos em póde alta resolução

O ADX-2700 θ-θ Powder X-ray Diffraction Instrument (XRD) é um difratómetro de raios X multifunções com uma velocidade de análise, fiabilidade e reprodutibilidade excepcionais. O ADX2700 XRD é um instrumento de difração concebido para os desafios da investigação moderna de materiais. O difratómetro de raios X ADX2700 pode analisar pós, líquidos, películas finas, nanomateriais e muitos outros materiais diferentes. O ADX2700 X-Ray Diffraction pode ser utilizado para muitas aplicações diferentes: Académicas, Farmacêuticas, Químicas e Petroquímicas, Investigação de Materiais, Metrologia de Películas Finas, Nanotecnologia, Alimentação e Cosmética, Forense, Mineração e Minerais, Metais, Plásticos e Polímeros, etc. O ADX2700 X-ray Diffraction (XRD) tem a função de difração de pós de raios X θ-θ (theta-theta) e θ-2θ (theta-2theta). Características Tomografia computorizada, Difração de raios X de alta resolução, Rastreio de elevado rendimento, Difração no plano, Análise de tamanho de cristalitos e micro-deformações, Micro-difração, Difração sem ambiente, Análise da função de distribuição de pares, Identificação de fases, Quantificação de fases, Análise de refletividade, Análise de tensões residuais, Cristalografia, Análise de textura, Transmissão, Análise de película fina. ADX-DWZ Combinação de berço Euleriano para investigações de tensões e texturas, acessório de análise de quantidade e de película fina com software de controlo e análise com funcionalidade sem alinhamento. O trocador de amostras ADCX é compacto e robusto. A centrifugação integrada melhora as estatísticas das partículas em medições de amostras policristalinas. Alinhamento totalmente automático. Programável.