O IP750Ex-HD oferece capacidade de teste de sensores de imagem para dispositivos atuais e futuros, proporcionando o menor custo de teste.
- Sistema de teste avançado para sensores de imagem projetado para dispositivos atuais e de próxima geração.
- Otimizado para alta produtividade e baixo custo de teste.
- Suporta uma ampla gama de tecnologias e configurações de sensores de imagem.
- Arquitetura flexível para acomodar requisitos de dispositivos em evolução.
- Projetado para confiabilidade e escalabilidade em ambientes de produção.
Vantagens e Configurações:
- Eletrônica de pinos de alta densidade para testes paralelos.
- Recursos de teste configuráveis para atender às necessidades do dispositivo.
- Ferramentas de software abrangentes para desenvolvimento de testes e análise de dados.
- Integração perfeita com sistemas de manuseio automatizados.
Aplicações Típicas:
- Teste de sensores de imagem CMOS e CCD.
- Garantia de qualidade para dispositivos de imagem automotiva, móvel e industrial.
- Ambientes de teste de produção e engenharia.
Características Principais:
- Alto paralelismo para aumentar a produtividade.
- Baixo custo de propriedade e operação.
- Plataforma preparada para o futuro que suporta novas tecnologias de sensores.
Especificações Técnicas / Características:
- Eletrônica de pinos de alta densidade
- Recursos de teste configuráveis
- Suite de software abrangente
- Integração com automação
- Suporte para sensores CMOS e CCD
- Arquitetura escalável