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Sistema de teste para semicondutores Magnum V
automático

Sistema de teste para semicondutores - Magnum V - Teradyne - automático
Sistema de teste para semicondutores - Magnum V - Teradyne - automático
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Características

Aplicações
para semicondutores
Outras características
automático

Descrição

O sistema Magnum V da Teradyne oferece alta taxa de transferência e alta eficiência de teste paralelo para testes de NAND Flash e memórias DRAM de ultra-alto desempenho. - Alta taxa de transferência e eficiência de teste paralelo - Projetado para testes de memória NAND Flash e DRAM de ultra-alto desempenho Características principais: - Suporta dispositivos de memória NAND Flash e DRAM avançados - Otimizado para ambientes de fabricação de alto volume - Arquitetura escalável para futuras tecnologias de memória - Alto paralelismo para maximizar a eficiência da célula de teste - Cobertura de teste abrangente para produtos de memória de próxima geração Aplicações: - Teste de memória NAND Flash - Teste de memória DRAM Especificações técnicas: - Sistema: Magnum V - Tipos de teste: NAND Flash, DRAM - Alta taxa de transferência e paralelismo - Escalável para futuras tecnologias de memória

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.