Espectrômetro ultravioleta Nexsa G2 XPS

de raios Xde fotoelétrons excitados por raios Xde aquisição de dados

O sistema de espetrometria de fotoelectrões de raios X (XPS) Thermo Scientific Nexsa G2 oferece uma análise de superfície totalmente automatizada e de elevado rendimento, fornecendo os dados necessários para avançar na investigação e desenvolvimento ou para resolver problemas de produção. Ao integrar o XPS com a espetroscopia de dispersão de iões (ISS), a espetroscopia de fotoelectrões UV (UPS), a espetroscopia de perda de energia de electrões reflectidos (REELS) e a espetroscopia Raman, permite-lhe realizar uma verdadeira análise correlativa. O sistema inclui agora opções para aquecimento de amostras e capacidades de polarização de amostras para aumentar a gama de experiências possíveis. O Sistema de Análise de Superfícies Nexsa G2 abre o potencial para avanços na ciência dos materiais, microeletrónica, desenvolvimento de nanotecnologia e muitas outras aplicações. Caraterísticas do Sistema de Análise de Superfície Nexsa G2 Fonte de raios X de alto desempenho Um novo design optimizado do monocromador de raios X permite selecionar uma área de análise de 10 µm a 400 µm em passos de 5 µm, assegurando a recolha de dados da caraterística de interesse e maximizando o sinal. Ótica de electrões optimizada A lente de electrões de elevada eficiência, o analisador hemisférico e o detetor permitem uma excelente detetabilidade e uma rápida aquisição de dados. Visualização de amostras XPS Coloque as caraterísticas da amostra em foco com o sistema de visualização ótica patenteado do Nexsa G2 Surface Analysis System e o XPS SnapMap, que o ajuda a identificar rapidamente as áreas de interesse. Análise de isoladores por XPS A fonte de inundação de feixe duplo patenteada associa feixes de iões de baixa energia a electrões de muito baixa energia (menos de 1 eV) para evitar o carregamento da amostra durante a análise, o que elimina a necessidade, na maioria dos casos, de referenciação de cargas.