Sensor interferométrico NS-1

Trata-se de um novo sistema de interferometria ótica que não está limitado pela precisão dos elementos ópticos ou do objeto a medir, com base no facto de as estatísticas do campo de dispersão (speckle laser) gerado quando um objeto de superfície rugosa é irradiado por um laser serem completamente aleatórias no sentido estatístico. Aplicações previstas - Análise do funcionamento de microcomponentes mecânicos, como os MEMS - Aplicações em que os strain gages não são aplicáveis (medição das caraterísticas de deformação e de tensão térmica de materiais poliméricos e de peças micro-unidas) - Amostras biológicas (medição do comportamento em tempo ultra-curto do crescimento de plantas, monitorização de alta precisão do crescimento de culturas em fábricas de plantas, definição de condições óptimas de cultivo) - Medição ambiental (avaliação ambiental utilizando organismos vivos) Caraterísticas - Medição de alta precisão - é possível a medição de ordem sub-nanométrica (o sistema de medição é simplesmente determinado pelo número de pontos de dados utilizados) - Medição sem contacto, não invasiva - Sistema ótico simples - Não é necessário um ponto de referência absoluto para a medição (podem ser utilizados quaisquer dois pontos) Laser - Comprimento de onda: 660nm Saída máxima: 90mW Equivalente à classe 3B Diâmetro do feixe de laser - Aprox. 1,0 mm Intervalo do feixe de laser - Aprox. 3,0 mm Precisão da medição - ±1.0nm PC e software - Fornecidos como acessórios de série Taxa de quadros - 2fps Fonte de alimentação - Monofásica, AC100V, 50/60Hz, 5A Dimensões - - L240 × D200 × H280mm (unidade principal) - L390 × D320 × H200mm (unidade de controlo) Peso (aprox.) - - 5kg (unidade principal) - 6 kg (unidade de controlo)