Máquina de inspeção de raios X Phoenix Microme|x Neo

para tomografia computadorizada3Dpara semicondutor

Alto desempenho em inspeções especiais com microfoco e nanofoco para eletrônica Phoenix Microme|x Neo e Nanome|x Neo O Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo oferecem tecnologia de raio X 2D em alta resolução, PlanarCT e tomografia computadorizada (CT) 3D em um sistema, possibilitando ensaios não destrutivos (NDT) de componentes eletrônicos – como semicondutores, placas de circuito impresso, baterias de íons de lítio – no setor industrial, automotivo, de aviação e de eletrônica para o consumidor. Com uma engenharia inovadora associada à precisão de posicionamento extremamente alta, o Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo são ideais para inspeções em componentes eletrônicos industriais com raio X para o controle de processos e da qualidade, aumentando a produtividade, para análise de falhas, aumentando a segurança e a qualidade dos seus produtos, e para a R&D, onde surgem as inovações. Descubra todos os novos recursos do mais recente lançamento de produtos Phoenix Nanome|x e Microme|x Neo. Anteriormente éramos conhecidos como GE Inspection Technologies. Agora nós somos a Waygate Technologies, uma empresa líder global em soluções de NDT (ensaios não destrutivos), com mais de 125 anos de experiência na garantia da qualidade, segurança e produtividade.