Espectrômetro EDXRF X-Cite

para a indústria metalúrgicacompactode bancada

Especificações do sistema: Análise elementar não destrutiva C(6)-Fm(100) de PPM a 100% de concentração. Seis filtros personalizáveis para a determinação rápida e precisa de traços e elementos menores. Resolução de até 125eV. Design robusto, geometria compacta. Bandeja de amostras com 8/16 posições. Fácil de operar graças ao pacote de software proprietário nEXt™. O espectrômetro X-Cite Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) da Xenemetrix oferece a solução de preço/desempenho mais conveniente do mercado para análise elementar. O espectrômetro compacto cabe convenientemente em uma bancada de laboratório tradicional e inclui um sistema de computador completamente integrado. O desenho e construção robustos tornam o instrumento ideal para um laboratório móvel. O X-Cite Xenemetrix utiliza um detector de alta resolução e um poderoso tubo de raios X com tamanhos de pontos variáveis para acomodar amostras de vários tamanhos. O analisador fornece determinação qualitativa e quantitativa não destrutiva de C(6)-Fm(100). O resultado final é um produto excepcional, capaz de fornecer resultados analíticos poderosos hoje e no futuro. Esta abordagem é particularmente valiosa em aplicações onde quantidades limitadas de amostras estão disponíveis ou onde a integridade da amostra deve ser preservada para outros propósitos. A unidade inovadora tem um desempenho superior aos sistemas tradicionais sem os custos e dificuldades associados ao arrefecimento com nitrogénio líquido. Todas as capacidades de computação estão integradas no design do sistema para análise e transferência de dados abrangentes.