コンピュータ制御座標測定機 µCMM

ブリッジラインエッジ光学式

µCMMは、このクラスで最も高精度な光学式微小座標測定システムです。ユーザーは、触覚座標測定技術と光学式表面測定の利点を組み合わせ、1つのセンサーで部品の寸法、位置、形状、粗さを測定することができます。新しいμCMMは、複数の光学3次元測定値を互いに関連させた高い幾何学的精度を提供し、非常に短い時間での位置の正確な決定を含む、表面の微細な測定を可能にします。 3D測定は、関連する測定ポイントのみで行われるため、非常に短時間で行うことができます。表面粗さとGD&T形状の両方を、1台のセンサーで1桁μmの公差で測定することができます。測定可能な表面の範囲は、プラスチック、PCD、CFRP、セラミック、クロム、シリコンなどの一般的な工業材料や複合材料、マット、研磨、反射性のある部品など、すべての一般的な表面を含みます。シンプルな操作は、シングルボタンソリューション、自動測定シーケンス、特別に開発されたコントローラなどの人間工学に基づいた操作パネルによって実現されています。 光学式μCMMピック＆プレースは、ロボットアームで拡張され、自動的に部品のピック、配置、測定、選別を行います。ピック＆プレース自動化ソリューションを使用すると、10分以内に完全な自動化プロセスを設定することができます。