{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... 直感的な操作、高品質のカメラ、フレキシブルな照明により、瞬時に正確な測定が可能。様々な部品に適していますが、主にそのままにしておくのが最適な部品に適しています。新世代の光学計測をご覧ください：ツァイスOディテクト お客様のメリット 優れた光学系 多用途でアップグレードが容易 簡単なパーツナビゲーションと視覚化 安定した精度 直感的で使いやすいソフトウェア 専門的で実用的なレポート エントリーレベルのハイエンドカメラ ZEISS O-DETECTの重要な要素は、その高品質カメラです。洗練されたソフトウェアと新しいオートフォーカス機能により、カメラで撮影された画像は正確な測定結果に変換されます。 素早く、正確に、直感的に-オーバービューカメラのおかげです。 ZEISS ...
... OPTIV M 3.2.2ベンチトップマルチセンサー座標測定機（CMM）は、HexagonのEnhanced Productivity Series（EPS）の強みを生かし、精密部品メーカーに、個々のアプリケーションや生産目標に合わせて最適化されたさまざまなEPSパッケージを事前に設定して提供します。 OPTIV M 3.2.2は、今日のアプリケーションに合わせたマルチセンサーCMMの需要を満たすだけでなく、将来のスマートテクノロジーや変化する生産要件にも容易に適応できるように設計されています。 OPTIV ...
... OPTIV M 4.4.3およびOPTIV M 6.6.4マルチセンサーおよび光学式座標測定機(CMM)は、HexagonのEnhanced Productivity Series (EPS)の強みを生かし、精密部品メーカーに、個々のアプリケーションや生産目標に最適化されたさまざまなEPSパッケージを事前に設定して提供します。 OPTIV M 4.4.3とOPTIV M 6.6.4は、現在のアプリケーションに合わせたマルチセンサーCMMの需要を満たすだけでなく、将来のスマートテクノロジーや変化する生産要件にも容易に適応できるように設計されています。 OPTIV ...
... HP-CはCMMのためのビジョンカメラ測定システムです。 小さなフィーチャ、壊れやすい部品、変形しやすい構成部品を測定し、プローブよりイメージキャプチャが高速となるアプリケーションで高いスループットを提供します。 本機は高解像度カメラおよび内蔵の照明システムを装備しています。 110mmの作動距離および2つのズームオプションにより、HP-Cは特に特徴が触覚プローブに対して小さすぎる場合でも対応する極めて柔軟なソリューションです。 FOV内の全視界(FOV)でも特定の関心領域(ROI)から、穴径またはエッジポジションのような1つ以上の測定フィーチャを選択できます。 ...
... XM-60 は 1 回のセットアップで位置決め軸に沿った 6 自由度の誤差を同時に測定できるレーザー計測システムです。1 回のデータ取得で軸に関するあらゆる幾何誤差を測定する高機能診断ツールです。 空間補正に際しても XM-60 を使うことで迅速かつ正確にデータを取得できます。光学的にすべての計測を行うため、設置方向を選びません。 ...
... CreaformのMaxSHOT 3Dラインナップは、製品開発、製造、品質管理、検査チーム向けのゲームチェンジャーです。2 ～ 10mの部品よりも、大規模なプロジェクトで最高の測定精度と再現性を必要とします。0.015mm/m以上の精度を実現する想像してみてください。 高度なユーザーガイダンス技術と使いやすいソフトウェアにより、MaxSHOT 3Dは、測定を行わない専門家でも、あらゆるレベルのユーザーに最適です。測定が常にドットで行われるため、プロセス効率が向上します。 大規模なプロジェクトに一貫して取り組む場合、MaxSHOT ...
... 半導体産業チェーンの上流に位置する原料生産企業に対し、独自に開発した分光共焦点測定装置を用いて、半導体原料やエピタキシャルウエハーのサイズや平坦度を検出する。 製品の長所です。 広い応用範囲 各種材料、研磨条件の4～8インチのオリジナルウエハ、基板、エピタキシャルウエハに使用します。 高い測定精度 厚み範囲0～1mm 測定精度：±1μM 繰返し精度：0.2μm 短い測定時間 測定時間30s / PCS（お客様の検出軌跡に準ずる。） ...
... マーポスが提供する、カム/クランク/ギア/ドライブシャフト向け高精度測定制御用フレキシブルソリューションにおいて、最新世代にあたるのがOptoquick（オプトクイック）です。 オプトクイックを製造マシンのすぐ横に設置することで、オペレーターは短時間で高精度の品質管理を実行できます。生産中のワークの操作にかかる時間を短縮して、現場全体にわたってワークを扱う際の無駄な時間を排除します。 Optoquick（オプトクイック）は、現場での円筒形ワークの高精度測定に完璧に適合するソリューションです。正確さ、繰り返し精度、および安定性という観点で、最高クラスの測定性能を備えています。 オプトクイックは、業界標準を超える幅広い測定機能を提供します。画像ベースの技術は、サイクルタイムの短縮に役立ちます。測定は、ワークの移動中に行われます。 インテリジェントな画像処理によって、オプトクイックは、ワーク上の複数の異なるフィーチャーを同時に検査できます。オプトクイックを使用すると、短時間で品質を検査できるので、生産性が向上し、生産能力が最適化されます。 セットアップは使いやすく、必要なトレーニングは最小限で済みます。オプトクイックにワークをロードする作業は人間工学に基づいて開発されているので、ローディングエリアには障害物がなく、十分なスペースが確保されています。 念入りに使いやすく設計されたグラフィカルインターフェースには、測定結果がクリアに表示され、視覚的なワークレイアウト上にワークのすべての不適合個所が表示されます。 ...
... 寸法測定機は、触覚、空気圧、光学的な測定方法を特徴とし、イェノプティックはお客様の個別の要件や仕様をすべて考慮します。 HOMMEL ETAMICは、お客様の最も困難な測定タスクに適した測定システムを提供します。私たちの長年の経験と豊富な専門知識は、お客様のお役に立つことでしょう。私たちは、複雑な測定システムの計画から、お客様の仕様に沿ったシステムの導入まで、お手伝いいたします。 その際、私たちは多様な製品群を利用することができます。これにより、さまざまな測定技術の利点を組み合わせることができます。 また、生産工程のあらゆる段階で、ワークピースの品質を測定することができます。これにより、常に高品質で、必要なすべての基準を満たす部品を製造することができます。データを評価するために使用される装置とソフトウェアは、非常に直感的なものです。これにより、時間、費用、資源を節約することができます。私たちの専門家は、お客様の個々の要件に最適な測定システムを特定するために、有能で包括的なアドバイスを提供します。 ベネフィッツ ...
... Jenoptik の Opticline CS 製品の測定ステーションは、回転部品測定の要求に応えるために特別に設計されています。 システムは、生産工程の中でも、または測定室でも使用することができます。 産業環境の過酷な生産現場でも問題なく機能します。 Opticline CS システムは、統計的プロセス制御（SPC）のためのさまざまなインターフェイスを搭載し、 製造プロセスの極めて効率的なモニタリング を可能にし 、必要に応じて迅速な介入 を可能にします。 これにより、 一貫して 高品質 ...
... Jenoptik の Opticline 製品シリーズの測定ステーションは、光学シャフト測定の要求に完璧に対応します。 システムは、生産工程の中でも、または測定室でも使用することができます。 産業環境の過酷な生産現場でも問題なく機能します。 SPC 測定ステーションには、統計的プロセス制御（SPC）のためのさまざまなインターフェイスが取り付けられています。 これらは 製造プロセスの極めて効率的なモニタリングを可能にし 、必要に応じて迅速な介入を可能にします。 これにより、一貫して高い品質のワークを製造することが可能になります ...
... 投影画像で「瞬間」検査 インライン投影画像測定器 LED光の中を通過させるだけで、リードフレームの各種寸法（穴径、ピッチ、幅、曲がりなど）が同時に測定できます。 ピストンヘッドの寸法と異物検査 光を照射し、ピストンヘッドを回転させることで、ピストンヘッド全周の寸法と溝の中の異物や切粉の有無を同時に検査できます。 高電圧ケーブルの外径測定 LED光の中を通過させるだけで、高電圧ケーブルの最大/最小外径を同時に測定できます。 モータコアの外径測定 ロータコアの外径をコア側面の凹凸形状に左右されずに測定可能です。センサヘッドを2台使用すれば、大口径の外径測定も可能です。 ...
Keyence
... QVアクティブ 対物レンズ交換式ズームユニット 高精細カラーカメラ タッチプローブ搭載モデルもございます QV APEX Pro/QV HYPER Pro QV Proは全機種にストロボライトを搭載し、新開発の画像計測機能「StrobeSnap」により、高スループットと高精度を両立した計測を実現します。 測定範囲（X×Y×Z）：300×200×200 mm～600×650×250 mm CNC画像測定システム QVプロ STREAM機能によるノンストップ測定で驚異の高スループットを実現。測定時間を従来機比約40％短縮。 豊富な測定精度、測定レンジ、測定機能をラインナップ。 タッチトリガープローブ付きCNC画像測定システム QV ...
MITUTOYO/ミツトヨ
... このシステムは将来的な必要条件に合わせて簡単にカスタマイズできるため、将来性のある投資が可能 簡単なコミッショニングおよび所轄官庁による測定システムも問題のなく現場検査可能 電気系統と分析回路が明確に区別されていることからメンテナンスが簡単 CANバス技術を使用した素早く簡単なモジュール交換による高い運用性 連続排出量測定システム (CEMS) PowerCEMS100は、経済的にも技術的にも理想的な抽出式測定タスク向けソリューションです。この完全システムには、高品質の標準アセンブリおよびコンポーネントが含まれており、モジュール式のシステム構造により、指定された要件に合わせて設定することができます。分析装置モジュールまたはガス調製のコンポーネントは、低コストで容易に後付けが可能です。革新的なPowerCEMS100は、欧州規格EN ...
... MarForm MFU 200 Aspheric 3D は、生産現場の近くで光学部品を2Dおよび3Dで迅速にテストするために使用されます。MarForm 測定器は、その精度と安定性が何十年もの間認められています。 MarForm MFU 200 Aspheric 3Dは、非常に低い測定不確かさにより、工程の最適化要件を満たすのに最適な精密測定器です。 振動クッション付きキャビネット内の測定ステーションを使用することにより、振動や汚れなどの外部干渉を測定対象物から遠ざけています。 光学センサーと触覚センサーは、電動スイベルジョイントを使用して任意の角度位置（0°から360°）に配置できるため、高い柔軟性を提供します。RMS値、PV値およびリード誤差は、パラメータとして示されます。 ソフトウェアでは、曲率半径R0、円錐定数k、非球面係数Aiなどの非球面の個々のパラメータを、公称非球面をフィット非球面に調整する際に、測定結果に合わせて調整できます。 実用的なアプリケーションとして、以下が含まれます： ...
MAHR/マール
... 製品概要
NikonのNEXIV VMZ‑Sシリーズは、産業向けの寸法・高さ測定を行うビデオ測定システムです。VMZ‑S3020、VMZ‑S4540、VMZ‑S6555の3機種をラインアップし、6種類の光学ズーム/ヘッドを選択可能、TTL（透過光学系）スキャニングレーザーAFを標準搭載しています。
速度と精度
- TTLレーザースキャニングAFは最大1000点/秒の高速高さスキャンに対応し、表面プロファイルを迅速に取得します。
- 最小表示0.01µm、レーザーAF繰り返し精度2σ
Nikon Metrology
... - ビジョンシステムと白色光干渉計（WLI）による非接触測定。 - ビジョンセンサによる簡単なアライメントと位置決め - ビジョンシステムによるQVPAKのフル機能 - 表面粗さ解析などの高解像度トポグラフィ評価のためのWLIシステムによる機能強化。 ...
MITUTOYO/ミツトヨ
... インクリメンタル磁気抵抗式角度測定用SRM測定エレクトロニクス付き測定システムベアリング 工作機械の電気駆動軸における極めて高い加工品質と機械の稼働率向上 お客様のメリット 優れた位置決め精度と高い加工品質 高い機械稼働率 初期稼動時間が極めて短い 低い設置スペース 機械中央のフリースペース 極めて高い加工品質 YRTCM/YRTSM測定システムベアリングは、精密で信頼性の高い角度測定を機械軸で直接行うことができ、非常に高い加工品質と高い機械稼働率を実現します。 あらゆる工作機械制御システムとの電子的互換性 SRM角度測定技術は、実績のある共通の電子インターフェース（1Vssに類似）を採用しており、角度測定システムは、すべての工作機械制御システムと電子的に互換性があります。 磁気抵抗作動原理 信頼性が高くフェイルセーフな磁気抵抗作動原理により、機械の故障が防止され、卓越した機械稼働率が達成されます。 回転テーブルベアリングへの角度測定システムの統合 必要な設置スペースが削減され、利用可能な加工領域が広がります。さらに、軸中央の空きスペースは、電源ケーブル、データケーブル、メディア供給ラインに利用できます。 ...
... 光学式限界寸法（CD）および形状測定システム SpectraShape™ 12k寸法測定システムは、ナノシート、finFET、DRAM、垂直スタックNAND構造、および最先端設計ノードの集積回路上のその他の複雑なフィーチャーの臨界寸法（CD）および3次元形状の完全な特性評価と監視に使用されます。SpectraShape 12kは、光学技術と特許取得済みアルゴリズムの大幅な進歩により、さまざまなプロセス層にわたるクリティカル・デバイス・パラメータ（クリティカル・ディメンション、高誘電率およびメタルゲート・リセス、側壁角度、レジスト高さ、ハードマスク高さ、ピッチウォーキング、オンデバイス・オーバーレイなど）の微妙なばらつきを特定します。改良されたステージと高スループット動作を可能にする新しい測定モジュールにより、SpectraShape ...
KLA Corporation
... 経済的で使いやすいオフライン部品測定システム オフライン直径と楕円率測定システムを素早く簡単にセットアップして、部品サンプルの品質管理を実現します。 • 多彩なゲージ — ラボや生産フロアのQCステーションなどのオフライン環境で、BETA LaserMikeオンラインゲージ、単軸 および多軸バージョンを使用できます。• セットアップが簡単 — USBまたはイーサネット経由でゲージをオプションのPCに接続可能 • ユーザーフレンドリーソフトウェア — ゲージ、複数の部品レシピ、ランメニュー、色分けされたディスプレイの簡単なセットアップにより、AccuNetの使いやすさ • ...
... ヘッド接続可能台数:2 台 設定登録数:SD カード1、SD カード2 それぞれ1000 設定まで（SD カード容量および設定内容に依存）、外部切換可能 メモリーカード: • SD カードスロット× 2 • OP-87133（512 MB）、CA-SD1G（1 GB：SD1 スロットに標準装備）、CA-SD4G（4 GB）、CA-SD16G（16 GB）に対応 設定可能ツール数:各ヘッドごとに計測ツール100 個、要素ツール100 個まで *1 ...
KEYENCE
... 世界最高精度の平面ワーク測定用2次元スキャナー 現場や測定室での高い精度が要求される光学式2次元測定を高速に行うことができます。 フラットスコープは、画像処理センサーが測定物を支えるガラス板の下に配置された革新的な設計原理を持っています。そのため、ピント合わせに時間がかかることなく、すべてのワークがシャープに撮像されます。また、フラットライトを使用することで、測定範囲全体にわたって均一なテレセントリック物体照明が可能となり、輪郭画像処理により、輪郭フィルターやエレメントフィルターを使用することで、信頼性の高い測定が可能となります。適用分野は、箔、プリント基板、レーザー、ファインブランキング部品など、より大きな2次元ワークの測定です。 - ...
WERTH MESSTECHNIK
... プロセスレンズのハイエンド5D SPIシステムは、スピードと精度のかつてないコンビネーションを提供し、強力な最先端アルゴリズムの使用により、何を測定し、結果をどう解釈するかを正確に理解する。 - 革新的です：800万個または2000万個のマイクロミラーを搭載したDLPチップ（それぞれ標準バージョンとHDバージョン）が、まったく歪みのないモアレパターンを作り出します。 - 高速で信頼性が高い：従来のSPIシステムに比べ、検査時間を最大70％短縮し、誤判定を最大80％低減。 - 高精度：10µmまでの解像度を持つプロセスレンズでは、スピードと精度はもはや相反するものではありません。 - ...
ASM Assembly Systems
... 外径48mm（1.89インチ）までのケーブル・サンプル用 ケーブル測定装置VCPLabは、絶縁体やシースからケーブルの形状を測定するカメラベースのシステムです。高解像度センサーを内蔵しているため、外径1 mm以下の非常に薄いサンプルも、外径48 mmまでのケーブルシースも、非常に正確に測定できます。 装置の詳細 外光を遮断する堅牢なケース 中央制御ユニット セミオートフォーカシングと照明 衝撃や振動に対する安全性 擬似無影透過光 照明、光学系、カメラの最適なシステム状態 2台のカメラによる測定が可能 研究室での2D測定用に調整可能な操作距離 高解像度センサーによる高精度測定 標準化された個々のコンポーネント 測定手順が非常に簡単 適切なソフトウェアVELOXとCAQ-System ...
... 記事の説明
- 測定システム構成：パイロメーター CellaTemp PA 40 AF 1；取付け SK 803。
特長
- 集光可能な光学系を備えた二色式パイロメータ、ステンレス製ハウジング
- 広帯域反射防止精密レンズ
- アナログ出力2系統、スイッチング出力2系統、USBおよびRS-485インターフェース
- 照準補助：レンズ越し照準
- 産業用途向けの冷却継手およびエアパージ付き取付金具
- 空気式および機械式ボールバルブ
- 空気式ボールバルブ用の制御装置を備えた制御盤
- 流量監視器および圧力調整器、空気および電源接続
測定パラメータ
測定範囲：500 ...
Keller Pyrometer Systems
... 測定システム 構成：
- パイロメーター CellaTemp PA 40 AF 1
- 取付金具 SK 824
主な特長：
- ステンレス製筐体内の焦点調整可能な二色式パイロメーター
- 広帯域反射防止精密レンズ
- アナログ出力2点、スイッチ出力2点、USBおよびRS-485インターフェース
- 照準補助：レンズ越しの視準
- 工業用途向けの冷却接続およびエアパージ付取付金具
- 空気式および機械式ボールバルブ
- 空気式ボールバルブ用の制御装置を備えた制御盤
- 流量監視器、圧力調整器、および空気と電源接続
納品内容：
- パイロメーター
Keller Pyrometer Systems
... 製品概要
工業プロセスでの非接触温度測定用の二色式（比率式）パイロメータ測定システム。モデル：CellaTemp PX 40-K001。測定範囲はセグメント別に500～3000 °Cをカバーします。
構成品
- パイロメーター CellaTemp PX 40 AF 3
- 取付用アセンブリ PA 83-010（冷却継手およびエアパージを含む）
主な特長
- ステンレス製ハウジングに焦点調整可能な二色式光学系
- 広帯域反射防止精密レンズ
- アナログ出力1系統、スイッチング出力2系統、IO-Linkインターフェース
- 照準補助：レーザーパイロットライト。モデルにより内蔵カメラおよび映像出力あり
- 冷却およびエアパージ付き取り付け金具、産業用途向けに可変式の保持装置
測定パラメータ（概要）
測定範囲：選択可能なセグメントで500～3000 ...
Keller Pyrometer Systems
... VX8000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX8000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低圧電気機器、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 用途 VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツールを提供します。これには、[特徴抽出] ...
Chotest Technology Inc.
... VX8000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX8000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低圧電気機器、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 用途 VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツールを提供します。これには、[特徴抽出] ...
Chotest Technology Inc.
... 商品番号: VX8100 製品名: フラッシュ測定機 撮像素子：20M CMOS 視野：W130mm×L20mm & W200mm×L100mm 被写界深度：3mm & 30mm 作動距離：120mm 精度：±2μm(ステッチなし)&±5μm(ステッチなし) 分解能 0.1μm 積載量：5kg サイズ（LxWxH）: 500×280×670mm 重量：30kg VX8100フラッシュ測定機は、ワンキーオペレーションによる高速寸法測定を実現しました。VX8000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、金物、ゴム、低圧電化製品、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電製品、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 ...
Chotest Technology Inc.
... RRoboVib® - 自動実験モード試験用構造物試験装置 RoboVib® 構造物試験システムは、3D スキャニング振動計のレーザによる精密測定と産業用ロボットを組み合わせたもので、大型または複雑な形状の試験体の振動解析、自動モード試験、FE モデルの検証、構造ダイナミクス測定に最適な自動試験・測定ソリューションとなっています。RoboVib は、実験モード解析における試験時間や誤差の可能性を低減し、研究開発や製品開発を大幅に加速します。たとえば、自動車のボディ・イン・ホワイトのフルテストでは、試験の準備に数週間を要するのに対し、RoboVib ...
Polytec
... シリコンキャップで封止されたMEMSの非接触振動測定 MEMS デバイスの動的特性を測定し、機械的な応答を可視化することは、製品開発やトラブルシューティング、FE モデルの検証において重要です。ポリテックの MSA マイクロシステム アナライザは、面外振動 （OOP） や面内振動 （IP） を高速かつ正確に非接触で測定します。これまでは、光学的にアクセス可能な梱包されていないデバイスに限られていました。しかし、ポリテックの MSA-650 IRIS マイクロシステムアナライザでは、慣性センサ、MEMS ...
Polytec
... 小型部品や微細構造物の振動測定 MSA-060マイクロシステムアナライザは、MEMSやマイクロシステムの振動挙動、精密機械のダイナミクス、電子機器の信頼性を総合的に評価するための小型光学測定システムです。共振周波数、振動振幅の特定、さらにはサンプル全体の振動モードの可視化を支援します。 MSA-060 は、非常に小さく繊細なものからメソスケールのテスト構造物まで、真の振動ダイナミクスを捉えることができます。データ収集機器 VibSoft-PROは、2チャンネルで、シグナルジェネレータ―（信号発生器）を備えています。また、オプションのXYステージを使用すれば、サンプル表面全体をスキャンすることができ、DCから24 ...
Polytec
... 特許を取得したホイール測定機R2010は、自動車のホイールの幾何学的特徴を測定するために開発されました。測定値の記録、測定プロセス、計算、および測定された特徴の図解の機能を1つの装置に統合しています。全数検査用ホイール測定機R2010は、生産ラインに組み込むための全自動システムです。メカニック、エレクトロニクス、ソフトウェアはモジュールで構成され、お客様の仕様に応じて個別に設定されます。個々のコンポーネントは、情報技術、光学、レーザー、駆動技術などの分野における最先端の技術開発を統合することで、お客様ごとに完璧に設定されます。革新的な駆動技術を備えたIEFリニアモジュールを使用することで、最高の精度と繰り返し精度で最短の測定時間を実現します。ホイール測定器のキャリブレーションは、マスターの設定によって行われます。 特徴 スチールおよび軽金属ホイール用 モジュール式でコンパクトな構造 最適なアクセス性 手動または自動ローディング/アンローディング 測定ヘッドの完全自動位置決め 機能抜粋カタログ ラジアル振れ/アキシャル振れ 同芯度/軸振れの第1～10調和解析（フーリエ解析 リム幅 オフセット 直径/円周 センターホール径（オプション） ハンプ円周・高さ（オプション） ボルト穴位置（オプション） 評価クラス 単一測定 トレンドカーブ サンプル統計／パーツ統計 コントロールカート／周波数分布 高調波評価（フーリエ解析） トランスデューサグラフ ボルトホール位置（オプション） マッチポイント計算 ...
... 特許を取得したホイール測定機R2010は、自動車のホイールの幾何学的特徴を測定するために開発されました。測定値の記録、測定プロセス、計算、および測定された特徴の図解の機能を1つの装置に統合しています。測定ラボのSPCシステム（静的工程管理）のように設計されたホイール測定機R2010は、ホイール、リム、皿に適しています。メカニクス、エレクトロニクス、ソフトウェアはモジュールで構成され、お客様の仕様に応じて個別に設定されます。個々のコンポーネントは、情報技術、光学、レーザー、駆動技術などの分野における最先端の技術開発を統合することで、お客様ごとに完璧に設定されます。革新的な駆動技術を備えたIEFリニアモジュールを使用することで、最高の精度と繰り返し精度で最短の測定時間を実現します。ホイール測定器のキャリブレーションは、マスターの設定によって行われます。 特徴 - ...