幾何学模様測定システム XM-60

光学レーザーキャリブレーション用

XM-60 は 1 回のセットアップで位置決め軸に沿った 6 自由度の誤差を同時に測定できるレーザー計測システムです。1 回のデータ取得で軸に関するあらゆる幾何誤差を測定する高機能診断ツールです。 空間補正に際しても XM-60 を使うことで迅速かつ正確にデータを取得できます。光学的にすべての計測を行うため、設置方向を選びません。