校正干渉計 XL-80
レーザー光学式高精度

校正干渉計 - XL-80 - RENISHAW - レーザー / 光学式 / 高精度
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特徴

応用
校正
オプション
レーザー, 光学式, 高精度

詳細

高速性、高精度と高い可搬性を誇る XL-80 システムは、キャリブレーション用レーザーシステムのベストセラー製品です。高機能なソフトウェアと優れたパフォーマンスが統合された XL-80 を使用することで、業績を大幅に向上できます。 当社は、25 年以上にわたってレーザーシステムの設計、製造、および販売を行ってきました。XL-80 は、その経験をもとに最先端のシステム性能と操作上のメリットをユーザーに提供するために開発されました。

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見本市

この販売者が参加する展示会

IMTS 2026
IMTS 2026

14-19 9月 2026 Chicago (米国-イリノイ) ホール North Level 2 - ブース 211704

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。