干渉計

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
校正干渉計
校正干渉計
XL-80

高速性、高精度と高い可搬性を誇る XL-80 システムは、キャリブレーション用レーザーシステムのベストセラー製品です。高機能なソフトウェアと優れたパフォーマンスが統合された XL-80 を使用することで、業績を大幅に向上できます。 当社は、25 年以上にわたってレーザーシステムの設計、製造、および販売を行ってきました。XL-80 は、その経験をもとに最先端のシステム性能と操作上のメリットをユーザーに提供するために開発されました。

差動干渉計
差動干渉計
RLD10

RLD10 ディテクターヘッドは、干渉計光学部品、レニショー独自のマルチチャンネル干渉縞検出機構、レーザーシャッター、ビームステアラを内蔵しています。RLD10 ディテクターヘッドには、出力方向が 0°と 90°のものがあります。 特長とメリット 2 軸ソリューション - 2 軸の平面鏡システムは、XY ステージアプリケーションにとって理想的なソリューションです。 高分解能 - 平面鏡システムは、反射鏡システムに比べて高い分解能が必要になるアプリケーションにも活用できます。 ...

レーザー干渉計
レーザー干渉計
Verifire™

... ベリファイア 光学系ショップのメトロロジーワークホース ベリファイアレーザー干渉計システム Verifire™干渉計システムは、光学部品、システム、アセンブリの表面形状誤差、透過波面の高速かつ信頼性の高い測定を提供します。 真のレーザーフィゾーデザインであるVerifire™システムは、ZYGOの表面形状計測における比類のない経験を拡張したものです。ZYGO製造のHeNeレーザー光源とZYGOの特許取得アルゴリズムとフル機能のMx™計測ソフトウェアを組み合わせることで、使いやすい分析機能を備えた高精度計測を可能にします。 作業現場での信頼性の高い計測 近年、光計測の技術は大きく進歩しています。 ...

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Zygo Corporation
レーザー干渉計
レーザー干渉計
DynaFiz®

... ダイナフィズ ダイナミックな世界のための自信に満ちた計量 振動の多い環境での信頼性の高い干渉計用に設計されており、ハイエンドの望遠鏡テストから光学系のアクティブなアライメントのためのライブフェイズフィードバックまで、幅広いアプリケーションニーズに対応できる汎用性と柔軟性を備えています。 DynaFiz®の光効率の高い光学設計とZYGOハイパワーHeNeレーザー光源を組み合わせることで、振動を「フリーズ」させる高速シャッタースピードでの動作を可能にしました。このダイナミックな機能は、従来の時間的位相シフト技術ではあまりにも激しい環境下でも、信頼性の高い計測を可能にします。 主な特徴 - ...

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Zygo Corporation
平坦度測定用干渉計
平坦度測定用干渉計
Verifire™ MST

... ベリファイア™ MST 同時多面試験干渉計 Verifire™ MSTレーザー干渉計複雑なものをシンプルに - 複数の表面が複雑なフリンジパターンを作成するVerifire™ MSTは、特許取得済みの波長シフト技術を使用して、複数の表面から同時に位相データを取得します。 平行窓、透過波面、総厚さ変化(TTV)、ウェッジ、さらには材料の不均一性などの正確な表面間情報だけでなく、個々の表面からの重要なメトリクスをレポートします。 Verifire™ MSTは、モバイル機器のディスプレイガラス、データストレージディスク、半導体ウェハーなどの要求の厳しいアプリケーションに対応し、0.5 ...

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Zygo Corporation
レーザー干渉計
レーザー干渉計
XD Laser

... 数々の賞を受賞したXD Laserは、直線、角度、真直度、ロールエラーなど6つの自由度を同時に測定する多次元レーザー計測システムで、工作機械のエラー評価を迅速に行うことができます。 詳細はウェブサイトをご覧ください。 ...

フィゾー干渉計
フィゾー干渉計

... - フィゾー干渉計 - 4″から12″までの直径を測定 - 御影石ベースを使用したパッシブ防振システム - 自動干渉評価 仕様 システム: - レーザーベース、非接触、3D光学式 位相変化干渉法 の平坦度特性の測定 超仕上げ、反射率の高い表面と 光学系(追加コンポーネントのラップドZl_2028 ASBERSENIVESURFACEと同様に サンプルの給餌。 - 水平(オプション:垂直 システム品質: - / 8 解像度カメラ - 768 x 576ピクセル。 (オプション:より高い解像度) レーザー仕様 Typ: ...

フィゾー干渉計
フィゾー干渉計

... - フィゾー干渉計 - 4″ -システム - 卓上システム - 自動干渉評価 仕様 システム: - レーザーベースのフィゾー干渉計 レンズ: - 交換可能な球面リファレンス バヨネットロック 標準シリーズ: - 0,75 / 1,0 / 1,5 / 3,3 / 7,2 システム品質: - / 10 CNC-軸: - X-Y レベリング CNC軸: - Z-粗調整・微調整 解像度: - 768 x 576 ピクセル Zトラベル: - 500 mm 寸法 - 950 ...

フィゾー干渉計
フィゾー干渉計

... - フィゾー干渉計 - 測定開口部 6 - 御影石ベース - パッシブ防振システム - 自動干渉評価 仕様 システム: - レーザーベース、フィゾー干渉計 の平坦度特性の測定 超仕上げ、反射率の高い表面と 光学系(追加コンポーネントのラップドZl_2028 ASBERSENIVESURFACEと同様に システム品質: - / 10 サンプルの給餌。 - 水平(オプション:垂直 解像度: - 768 x 576 ピクセル 寸法 - 800mm x 800mm x ...

レーザー干渉計
レーザー干渉計
SP 5000 NG

... 新世代のレーザー干渉計 ナノメートルから数メートルまでの長さを測定するレーザー干渉計 座標測定器、工作機械、位置決め装置の精度に対する要求が高まり、移動範囲が数メートル以上になると、測定システムの受け入れや校正が困難になります。このような状況において、新世代のレーザー干渉計は、広い測長範囲と非常に高い分解能を兼ね備えたユニークな特性を持っています。He-Neレーザーの波長を長期的に安定した測定基準として使用することで、測定システムは国家標準にまで遡ることができ、したがって、計量学における校正や作業に理想的に適しています。干渉計の基礎となっているのは、SIOS ...

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SIOS Meßtechnik GmbH
校正干渉計
校正干渉計
SP 5000 TR

... トリプルビーム干渉計 SP 5000 TR • センサーヘッドはアルミニウム、ステンレス鋼、またはインバー製です • WindowsおよびLinuxのOEMソフトウェア向けのオープンインターフェース 技術データ: • 測定範囲:最大5 m • ビーム距離:12 mm • 角度分解能:0.002 アークセック •反射器による角度測定:±12.5°まで アプリケーション: • ガイドと平行移動、顕微鏡、測定、位置決め段階でのレーザー干渉測定 • 2軸または多軸長測定中の高精度ピッチおよびヨー 補正 ...

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SIOS Meßtechnik GmbH
レーザー干渉計
レーザー干渉計
SP 5000 DI

... 超安定した差動レーザー干渉計SP 5000 DIは、独自の熱安定性を特徴とし、材料試験などの研究開発における長期的な測定に使用できます。 その設計により、基準ビームをフィードスルーすることで、測定システムの分解能や安定性に大きな影響を与えることなく、測定位置から遠く離れた位置に配置することができます。 干渉計の長さ分解能は午後5時であり、同じビーム長の測定システムの差動原理により、通常の実験室条件下でも達成できます。 角度不変リフレクターが測定に使用されている場合、長さ測定の測定範囲は数メートルです。 ...

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SIOS Meßtechnik GmbH
光学干渉計
光学干渉計
202758

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OVIO INSTRUMENTS
ファブリ ペロー干渉計
ファブリ ペロー干渉計
FFP-SI

... マイクロン光学 FFP-SIファイバファブリペロー走査干渉計は、光ファイバに直接堆積される2つの高反射多層ミラー間のシングルモードファイバ導波路を備えたレンズレス平面ファブリペロー干渉計です。 キャビティは完全にファイバ導波路で構成されており、非常に広い範囲のフリースペクトル範囲(FSRs)を可能にし、アライメントやモードマッチングは必要ありません。 波長スキャニングは、積層された圧電アクチュエータを使用して、キャビティ内の短い部分の繊維を軸方向にひずみすることによって達成されます。 ...

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Micron Optics
干渉計
干渉計
0 - 200 mm | LMS-200

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Pratt & Whitney
動的干渉計
動的干渉計
PhaseCam 6000

... PhaseCam® 6000は、光学系および光学系を測定するための非常にコンパクトで軽量なダイナミックレーザー干渉計です。 位置決めが容易なファイバー結合測定ヘッドと電動制御を備えたPhaseCam 6000は、凹型望遠鏡ミラーやレンズシステムなどの大型焦点光学システム、フラットミラーやコリメータなどの小口径のアフォーカルコンポーネントの測定に最適です。 PhaseCam 6000には、ダイナミック干渉計® 技術が組み込まれており、1台のカメラ、高速光位相センサを使用して、波面測定を30マイクロ秒未満で行います。時間位相シフト干渉計の5000倍以上高速です。 ...

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4D Technology
レーザー干渉計
レーザー干渉計
2100C

... 2100Cレーザー干渉計の概要 2100Cレーザー干渉計は、元々設計され実用的に使用されたオリジナルの2100レーザー干渉計からその名前を取り、パロマー・テクノロジーズはヒューズ・エアクラフトの工業製品部門の一員でした。 ワイヤボンディング校正ツール 2100Cレーザー干渉計は、マイクロインチの動きを測定して超音波探触子エクスカーション(ピーク振幅)を測定するために使用されるツールです。 このツールは、もともとPalomar Technologiesのワイヤボンディングシステムを校正するために設計されました。 ...

レーザー干渉計
レーザー干渉計
LDM600, LDM1300

... LDM600モジュールは、波長 650nmの赤レーザと内部のSiダイオード検出器をベースにした共焦点測定用に設計されています。 レーザと検出器は、内部 50-50カプラ経由で2つの光ポートに接続されています。 光学測定(例えば共焦点顕微鏡のセクションを参照)では、LDM600には独立した第 2の検出器ポートも含まれています。 すべての光ポートはシングルモードファイバ用のFC/APCコネクタであり、検出器出力はBNCコネクタによって提供されます。 レーザー出力は、出力ポートあたり500µW ...

光学干渉計
光学干渉計

... 精密干渉計 • モード:Michelson、Fabry-Perot、Twyman-Green • 大型精密光学 • 5kg 機械加工アルミニウムベース 干渉計の歴史的重要性を見落とすべきではありません。 しかし、実験室では、Fabry-PerotとTwyman-Greenの干渉計は、より重要なツールになります。最初は高分解能分光法で、2 番目は波長の分数で測定できる収差を持つ光学部品をテストおよび製造します。 干渉計は高精度の可動ミラー干渉計で、マイケルソン、ファブリ・ペロー、トゥイマン・グリーン干渉計です。 ...

白色光干渉計
白色光干渉計

... 分散偏光クロストーク(X-Talk)アナライザ(PXA-1000)は、偏光維持(PM)ファイバーの長さに沿って応力誘起偏光クロスカップリングを分析することにより、空間分解応力情報を得るために設計された白色光干渉計の拡張バージョンです。 特許出願中の光学設計は、強力なゼロ次干渉を排除し、従来の白色光干渉計に共通するマルチカップリング干渉を低減します。どちらも測定信号にゴーストピークを引き起こす可能性があります。 ゴーストピークを除去することで、PXA-1000は実際のX-トークピークの大きさと位置を明確に識別できるため、従来の白色干渉計よりも高い測定感度、高いダイナミックレンジ、高い空間測定精度が得られます。 ...

波面分割干渉計
波面分割干渉計
WaveMaster® COMPACT

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TRIOPTICS
フィゾー干渉計
フィゾー干渉計
OWI series

... OWI Desktop 60 mm ハイライト レンズ用非接触測定システム 頑丈振動クッション設計 コンパクトなテーブルトップユニット マイクロメータスクリュースト 付き3軸微調整ステージ当社のハイクラスの干渉計モジュールOptoTech InspectミニEL-Fデジタル オプション:精密ゲージによる統合された半径測定; 静的なフリンジ解析ソフトウェア(フリンジOWI)または位相シフトフリンジ解析ソフトウェア(OptoTech µShape OWI); 空気圧圧圧延カート OWI ...

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OptoTech
干渉計
干渉計
SI series

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Thorlabs
レーザー干渉計
レーザー干渉計
µLine-F1

... µLine-F1は、機械形状検査用の小型レーザー干渉計です。 CNCデバイス補償とCMMデバイス較正用に設計されています。 インフェロメータの利点の1つは、その広範な環境金属補償である。 このデバイスは、ラボ用途の選択に適用できます。 平坦度、軸の平行度、振動、真直度、直角、小角、動的測定に使用できます。 このデバイスは、機械の形状、角度位置決め、ボールスクリュー検査、および機械の保守の迅速な評価にも使用されます。 ...

平坦度測定用干渉計
平坦度測定用干渉計
TOPOS 50

... TOPOS 干渉計は、光の放牧の入射率の原理に従って動作します。 また、粗い部品の平坦度を測定することができ、光学フラットやFizeau-干渉計でフリンジパターンを見せません。 干渉パターンに基づいて、コンピュータは試験対象物の平坦度を計算します。 ラップ部品や接地部品の隣にも研磨部品を測定することができます。 部品は多様な材料で構成されていてもよい: -金属(鋼、アルミニウム、青銅、銅など) -セラミック(AL2O3、SiC、SiNなど) -プラスチック材料 など 干渉計は、加工機の近くの生産ラインに配置することができます。 ...

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Lamtech Lasermesstechnik GmbH
白色光干渉計
白色光干渉計
interferoMETER

... マイクロイプシロンの白色光干渉計は、工業用に最適化されており、光学距離や厚さの測定においてこれまでにない精度を実現しています。マイクロイプシロンの白色光干渉計は、様々な分野のアプリケーションに対応した3種類のバージョンから構成されています。これらのシステムは、サブナノメートル領域の分解能で安定した測定結果を実現します。 - マイクロイプシロンの革新的なインターフェロメーターは、30ピコメーター以下の分解能で、光学測定技術において新たなレベルの精度を実現します。用途に応じて、3種類のバージョンをご用意しています。高精度・工業用距離測定用のIMS5400-DS、精密な厚さ測定用のIMS5400-TH、サブナノメートル精度の距離測定用の真空対応設計のIMS5600-DSです。 高精度IMS5400-THは、薄い透明材料の厚み測定に使用されます。フラッターや移動する測定対象物を許容する測定対象物からの距離に関係なく、1つのセンサーだけで測定を行います。近赤外光源は、反射防止コーティングガラスの厚さ測定も可能です。 IMS5400-DSは、工業用距離測定に使用されます。この測定システムは絶対的な測定値を提供し、例えばステップやエッジなどを信号損失なしに確実に検出します。 IMS5600-DSは、クリーンルームや真空環境(超高真空まで)での距離測定用に設計されています。特殊なコントローラーキャリブレーションにより、センサーの位置合わせやステージの位置決めなどに必要なサブナノメーターの分解能を実現します。 ...

光学干渉計
光学干渉計
FI 1040 Z

... フラットおよび球面用40mm Fizeau干渉計 MarOpto FI 1040 Zは、フラットおよび球面および送信波面の非接触測定を提供できる強力な干渉計です。 MarOpto FI 1040 Zは、平面、プリズム、レンズなどの光学部品や、ベアリング、シーリング面、研磨セラミックスなどの精密金属加工品の測定に最適です。 測定は、単純な干渉フリンジ検出、IntelliPhase 静的空間キャリア解析、または位相変調インターフェログラム解析によって実行できます。 MarOpto ...

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MAHR/マール
レーザー干渉計
レーザー干渉計
LEM-CT-670-G50

... 当社のリアルタイム干渉プロセスモニタは、エッチング/コーティングプロセス中の膜厚およびトレンチ深さを高精度に検出します。 干渉は、単色光がサンプル表面に当たると発生し、フィルムの厚みや高さのばらつきにより、光学経路の長さが異なります。 このシステムは、サイクルに基づいて干渉強度を監視することにより、監視領域のエッチングおよびコーティング速度を計算し、所定の膜厚およびトレンチ深度から端点を検出します。 この理論に基づいて、このシステムは非常に安定しており、複雑な多層フィルムで使用することができます。 ...

変位測定用干渉計
変位測定用干渉計
PICOSCALE V2

... 高精度非接触変位計測 高精度な変位計測のために、スマーアクトは干渉計PICOSCALEを提供します。 - 1台で3つの平行レーザー干渉計を使用した3D測定が可能 - 測定帯域幅は最大2.5 MHz(サンプルレート10 MHz)、分解能は最大1 pm1 - ほとんどの材料で測定が可能(プラスチック、ガラス、金属、水まで) - 用途や環境(真空や極低温を含む)に応じて、幅広いセンサヘッドを用意 - オプションのモジュールを使用することで、完全なラボ用測定・制御機器に拡張可能 - ...

変位測定用干渉計
変位測定用干渉計

... コントローラーには、レーザーと検出用電子機器が搭載されており、複数のインターフェースを介してすべてのデータを提供します。 PICOSCALE干渉計は、非接触で変位を測定するための強力なシステムです。PICOSCALE干渉計コントローラーには、レーザー光源と、光信号を評価するために必要なすべての電子機器が搭載されています。この信号は、光ファイバを介してコントローラに接続されたセンサヘッドで生成されます。ビームスプリッターにより、レーザービームは参照光と測定光に分けられ、それぞれ参照ミラー(通常はセンサーヘッド内)とターゲットで反射されます。マイケルソンの原理により、ターゲットの反射率を考慮する必要はほとんどありません。PICOSCALE干渉計コントローラーは、強力なファームウェアモジュール、便利なソフトウェア、多彩なアクセサリーにより、新規または既存の測定セットアップに簡単に組み込むことができます。 出力信号 チャンネル数:3 データレート[MHz] ...

平坦度測定用干渉計
平坦度測定用干渉計
SJ6000

... 商品番号:SJ6000 製品名:SJ6000レーザー干渉計測定システム 線形測定範囲。0~80m 決断。1nm レーザーの頻度正確さ: 0.05ppm 動作温度。(0-40)℃ ダイナミックキャプチャレート50kHz メーカーチョーテスト・テクノロジー株式会社 機能 1.測定の高精度。決断はレーザーの干渉計の技術に基づいてナノスケールまでである; 高精度の環境補償の単位によって、周囲温度、圧力、湿気および材料の温度からの測定結果への影響は除去される; ...

光学干渉計
光学干渉計
PicoMove

... Teem Photonicsは、ピコメータスケールの変位と振動を測定するための、コンパクトで安定した高性能な干渉計の新しいラインを開発し、提供しています。 Teem PhotonicsのPicoMove 干渉計は、高安定性アーキテクチャのシングルチップ統合に基づいており、その結果、固有の超低ノイズの測定が可能です。 目に安全な1.55μmの動作波長は、市販の通信源との互換性を提供します。 また、センサー設計は可視波長を処理し、光ビームの位置合わせを容易にします。 ...

コンパクト干渉計
コンパクト干渉計
SLI 202, ALI 202

... 情報 コンパクトなワークショップ干渉計は、生産現場への設置を可能にし、光学系への即時アクセスを提供し、生産性を向上させます。 垂直振動絶縁設計では、最低限の床面積が必要です。 フルハウジングは、理想的でない環境でも機器を保護します。 フリンジパターンのライブモニター表示により、アラインメントが簡単になります。 位相測定機能により、正確な波形フロントマップが作成され、ユーザーフレンドリーな解析ソフトウェアでさらに調査できます。 オプションの高精度距離測定装置により、レンズの正確な位置決めが可能です。 ...