変位測定用干渉計 PICOSCALE V2
レーザー光学式高精度

変位測定用干渉計 - PICOSCALE V2 - SmarAct GmbH - レーザー / 光学式 / 高精度
変位測定用干渉計 - PICOSCALE V2 - SmarAct GmbH - レーザー / 光学式 / 高精度
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特徴

応用
変位測定用
オプション
レーザー, 光学式, 高精度, 3D

詳細

変位を高精度に測定するために、スマーアクトはPICOSCALE干渉計を提供しています。 3D測定用パラレルレーザー干渉計3台を1台に搭載 測定帯域幅は最大2.5MHz(サンプルレート10MHz)、分解能は1pm1以下 ほとんどの材料で測定可能(プラスチック、ガラス、金属、さらには水まで) 様々なアプリケーションや環境(真空や極低温を含む)に対応する幅広いセンサーヘッドを用意 オプションモジュールにより、完全なラボ用測定・制御装置に拡張可能 多くのお客様にご満足いただいている実績 1 周期変位を周波数領域で分析する場合 動作原理 PICOSCALEの全製品は、ビームスプリッターを使って光束を2つの経路に分け、ミラーで反射させた後、再結合させて干渉縞を生成するマイケルソン干渉計をベースにしています。変位や屈折率の変化によって光路長が変化すると干渉縞が変化し、ピコメーターの位置変化を高精度で測定することができます。 マイケルソン干渉計の利点 マイケルソン干渉計は、光を分割・再結合することで、ナノメートルまたはサブナノメートルの精度で微小な変位、振動、屈折率変化を測定し、卓越した精度と信頼性を提供します。その多用途性、非接触操作、超高真空や極低温のような厳しい環境下での性能により、計測、光学、先端研究のアプリケーションに不可欠なものとなっています。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。