レーザー干渉計 SP 5000 NG
OEM用途用校正測長用

レーザー干渉計
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特徴

応用
OEM用途用, 校正, 測長用, サブナノメーター変位測定用
オプション
レーザー, 光学式, コンパクト, 高解像度, 高精度, Michelson

詳細

高精度な長さ測定が可能なレーザー干渉式測定装置 最高精度のフレキシブルな長さ測定システム ビーム方向検出機能を内蔵しているため、取り扱いと調整が容易です。 反射鏡は、三面鏡、球面鏡、平面鏡反射鏡など、さまざまなものを使用することができます。 測定用リフレクターの許容傾斜角は±22.5°まで。 コンパクトで堅牢なデザイン 防滴仕様のセンサーハウジング センサーヘッドのデザインは、アルミニウム、ステンレススチール、インバー合金から選択可能です。 政府基準へのトレーサビリティ OEM版、OEMソフト、真空版も可 オプションのインターフェイスで応用範囲が広がる 豊富なトリガーオプション ガイド、測定ステージ、顕微鏡、位置決めステージ、三次元測定機、工作機械での長さ測定や校正、また複数座標の測定には、高精度で信頼できる結果が不可欠です。ユニバーサルレーザー干渉計SP 5000 NGは、高精度な長さ測定のためのソリューションであり、新しい測定プロジェクトのために、製品ファミリーのコンポーネントを追加していつでも完成させることができます。 コンパクトなSP 5000 NG干渉計は、取り扱いが簡単で、迅速かつシンプルな調整が特徴です。さまざまな環境や使用条件下で、高精度の測定結果を得ることができます。内蔵センサーによる干渉計のアライメントは、簡単、迅速、かつ非常に正確です。その結果、センサーの不適切なアライメントによるエラーを回避することができます。この高精度干渉計は、真空バージョンもあります。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。