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コンパクト干渉計
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... 概要
interferoMETER IMS5400-DSは、産業用途向けの絶対距離・変位測定用白色光干渉計です。本機はナノメートル分解能の絶対測定と比較的大きなオフセット距離を組み合わせ、透明物や多層構造に対するマルチピーク評価をサポートします。
特徴
- ナノメートル精度の絶対距離測定(段差プロファイルの検査に適合)
- 透明物に対するマルチピーク距離測定(MPモデルで最大14値同時評価)
- コンパクトで堅牢なセンサ、90°ビームパスのバリエーションあり
- 最大6
... 数々の賞を受賞したXD Laserは、直線、角度、真直度、ロールエラーなど6つの自由度を同時に測定する多次元レーザー計測システムで、工作機械のエラー評価を迅速に行うことができます。 詳細はウェブサイトをご覧ください。 ...
... 大口径で設置面積の小さいVerifire XLは、直径300mmまでの平面光学部品を簡単にテストできる、干渉計ワークステーションです。 この完全統合型のシステムは、カスタム治具が不要で、繰り返し測定可能な部品配置を提供する使いやすい頑丈なチップ/チルトステージを備えています。 コンパクトな設置面積に除振装置とコントローラモニタースタンドを組み込むことで、必要なスペースを最低限に抑えます。 ...
... 効率的な光学部品測定のための干渉計ワークステーション Verifire™ MSTレーザー干渉計ワークステーションZYGOのVerifire VTSは、用途に合わせて設計された球面測定用干渉計ワークステーションです。 垂直上向きのワークステーションはテスト部品を所定の位置に保持することで、高速ピックアンドプレース測定を可能にします。 内蔵型のパッシブ除振システムと石定盤のベースが、生産環境でも最高のパフォーマンスを実現できる測定用プラットフォームを提供します。 可動範囲1mの電動Zステージで、テスト部品の素早い配置が可能になり、曲率半径も得られます。 VTSは、さまざまな干渉計メインフレームと互換性があり、製造や開発のニーズに適したパフォーマンスレベルを選択できます。 ...
ZYGOの干渉計構成は、さまざまな測定シナリオに対応可能です。標準品以外に、用途に合わせたカスタマイズ干渉計の設計が可能です。単軸から複数軸、真空中での使用についても対応します。
... 高精度長さ測定用レーザー干渉計システム - 最高精度のフレキシブルな長さ測定システム - 統合されたビーム方向検出により、取り扱いと調整が容易 - トリプルミラー、球面ミラー、平面ミラー反射鏡など、様々な光学反射鏡を使用可能 - 測定用反射鏡は最大±22.5°まで傾斜可能 - コンパクトで堅牢な設計 - センサーハウジングは防滴構造 - アルミ、ステンレス、インバー製センサーヘッドの設計(オプション - 政府規格へのトレーサビリティ - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - ...
SIOS Meßtechnik GmbH
... 長距離での高精度長さ測定のためのレーザー干渉測定システム - 最高精度のフレキシブルな長さ測定システム - 長距離での高精度長さ測定 - 調整と取り扱いが容易 - 最大80mまでの測定が可能 - コンパクト設計 - 豊富なトリガーオプション - WindowsおよびLinuxのOEMソフトウェア用のオープンインターフェース SP 15000 NG ロングレンジレーザー干渉計は、長距離の長さ測定用に特別に設計されたもので、SP 5000 NG 製品シリーズをベースとしています。センサーヘッドには、レーザービームを大きな測定長に最適に適応させる光学部品が追加されています。この高精度リニアエンコーダの主な用途は、大型の三次元測定機や工作機械、長い直線軸、校正距離などです。 ...
SIOS Meßtechnik GmbH
... 超安定小型差動レーザー干渉計 - 最高精度の長さまたは角度の差分測定 - 差動測定による環境影響の最小化 - 熱的に超安定なセンサー設計、温度感度 < 10 nm/K - 球面反射鏡、平面ミラー反射鏡など、様々な光学反射鏡を使用可能 - 測定用反射鏡の大きな傾斜不変性 - コンパクトで堅牢な設計 - ステンレス製センサーヘッドを標準装備 - ビーム距離:14 mm - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - オプションのインターフェースでフィードバックシステムとして使用可能 - ...
SIOS Meßtechnik GmbH
... マイクロ干渉計VI-directは、平坦度検査の範囲を最小径の領域まで広げます。フィゾー型干渉計は、直径約0.8mmから3.6mmの光学部品の表面平坦度を測定することができます。コストパフォーマンスに優れたマイクロ干渉計VI-directは、マイクロプリズム、レーザー結晶、ファイバー端面などの光学部品の検査に使用できます。 - USB 3ポート経由でPCに直接接続、フレームグラバー不要 - 高解像度のデジタルカメラ(3088x2076ピクセル) - 露光時間が短いため、振動の影響を受けにくい ...
... 入力: Q2レーザーRADARは、自動車、CMM、校正、OEM用途向けの高度な干渉計です。65の並列チャネルとマイクロスキャナーを備え、高精度の測定を提供します。計測グレードの精度と高密度データを実現します。最大50メートルまで測定可能で、オートフォーカスとアライメントおよびドキュメンテーション用のRGBカメラを備えています。 主な特徴: - 高速データキャプチャのための65の並列チャネル。 - 計測グレードの精度。 - 最大50メートルまで測定可能。 - 簡単なアライメントのためのオートフォーカスとRGBカメラ。 - ...
... MSI 50 逆の設計でZ軸構成干渉計モジュールで剛性花崗岩ベースとパッシブエアダンパー高精度の半径スライドをハイライトB軸 高分解能スイベル軸に取り付けられました (B軸) 基板表面に直接垂直に干渉計ユニットを配置するための -駆動回転軸(C軸)光経路内の高開口球と平面表面を回転 させるオプションとして利用可能な様々なワークホルダー様々なワークホルダー:コレットチャック、3顎チャック、HD12-、HD25チャック OptoTech検査ミニEL-Fデジタル2「Fizeau-干渉計モジュール 統合PCとのコンパクトな設計ワークステーションの 取り扱い:従来の ...
OptoTech
... µLine-F1は、機械形状検査用の小型レーザー干渉計です。 CNCデバイス補償とCMMデバイス較正用に設計されています。 インフェロメータの利点の1つは、その広範な環境金属補償である。 このデバイスは、ラボ用途の選択に適用できます。 平坦度、軸の平行度、振動、真直度、直角、小角、動的測定に使用できます。 このデバイスは、機械の形状、角度位置決め、ボールスクリュー検査、および機械の保守の迅速な評価にも使用されます。 ...
... ティームフォトニクスは、ピコメータスケールの変位や振動を測定するための、コンパクトで安定した高性能な干渉計を新たに開発し、提供しています。 ティームフォトニクスの PicoMove 干渉計は、高安定性アーキテクチャのシングルチップ集積をベースにしており、超低ノイズでの計測を実現します。 目に安全な1.55µmの動作波長は、市販のテレコム光源との互換性を提供します。 また、光ビームのアライメントを容易にするため、可視光波長にも対応したセンサー設計となっています。ティームでは、低熱膨張材料や超高真空環境用のパッケージングオプションを提案しています。測定システムの電気部分(レーザー光源、ディテクタ)は、信頼性の高いファイバーピグテーリングにより遠隔操作されます。 ...