差動干渉計

3 社 | 6
製品を出展しましょう

& 当サイトからいつでも見込み客にアプローチできます

出展者になる
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
変位測定用干渉計
変位測定用干渉計
ZMI™ Series

... ZMI測定電子エレクトロニクス(基板) ZMI™ 測定用電子エレクトロニクスは、ZMI™ レーザー光源による干渉計からの光信号の変位を計算します。 ZMI™2400、4000、および4100シリーズは、より高精度が必要となる位置計測アプリケーション向けのサブナノメートル分解能を提供します。これらの測定基板をVMEシャーシにモジュール式に追加することで、最大64軸の測定に拡張可能です。 更に高い精度での測定を実現するため、当社特許取得の周期的誤差(サイクリックエラー)補正オプションが、DMIシステムの非線形誤差を自動的かつシームレスに除去します。 ZMI™ ...

校正干渉計
校正干渉計
SP 5000 TR

... 長さ、ピッチ、ヨー角を同時に高精度に測定するトリプルビームレーザー干渉測定システム - 最高精度のフレキシブルな測長システム - 統合されたビーム方向検出により、取り扱いと調整が容易 - 球面反射鏡、平面反射鏡など、さまざまな光学反射鏡を使用可能 - 最大±12.5°までの測定リフレクターの傾斜が可能 - コンパクト設計 - センサーヘッドはアルミニウム、ステンレス、インバー製から選択可能 - ビーム距離:12 mm - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - オプションの調整可能な偏向ミラーによるビーム偏向 - ...

その他の商品を見る
SIOS Meßtechnik GmbH
レーザー干渉計
レーザー干渉計
SP 5000 DI

... 2本の平行な測定ビームによる高安定な差動レーザー干渉計 - 最高精度の長さまたは角度の差分測定 - ディファレンシャル測定による環境影響の最小化 - 熱的に長期間安定したセンサー、温度感度 < 20 nm/K - 球面反射鏡、平面ミラー反射鏡など、様々な光学反射鏡を使用可能 - 測定リフレクターの大きな傾斜不変性 - ステンレス製センサーヘッドを標準装備 - ビーム距離:21 mm - 豊富なトリガーオプション - WindowsおよびLinuxのOEMソフトウェア用のオープンインターフェース 当社の超安定差動レーザー干渉計 ...

その他の商品を見る
SIOS Meßtechnik GmbH
OEM用途用干渉計
OEM用途用干渉計
SP 5000 DI/F

... 超安定小型差動レーザー干渉計 - 最高精度の長さまたは角度の差分測定 - 差動測定による環境影響の最小化 - 熱的に超安定なセンサー設計、温度感度 < 10 nm/K - 球面反射鏡、平面ミラー反射鏡など、様々な光学反射鏡を使用可能 - 測定用反射鏡の大きな傾斜不変性 - コンパクトで堅牢な設計 - ステンレス製センサーヘッドを標準装備 - ビーム距離:14 mm - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - オプションのインターフェースでフィードバックシステムとして使用可能 - ...

その他の商品を見る
SIOS Meßtechnik GmbH
校正干渉計
校正干渉計
SP 5000 DS

... 長さと角度を同時に高精度に測定するダブルビームレーザー干渉計 - 最高精度のフレキシブルな測長システム - 最高精度の角度検出 - 調整と取り扱いが容易 - 球面反射鏡、平面反射鏡など様々な光学反射鏡が使用可能 - 最大±12.5°までの測定用反射鏡の傾斜が可能 - コンパクト設計 - センサーヘッドはアルミニウム、ステンレス、インバーから選択可能 - ビーム距離:標準12mm、その他ご要望に応じます。 - OEMバージョン、OEMソフトウェア、真空バージョンが可能 - 豊富なトリガーオプション SP ...

その他の商品を見る
SIOS Meßtechnik GmbH
差動干渉計
差動干渉計
RLD10

... RLD10 ディテクターヘッドは、干渉計光学部品、レニショー独自のマルチチャンネル干渉縞検出機構、レーザーシャッター、ビームステアラを内蔵しています。RLD10 ディテクターヘッドには、出力方向が 0°と 90°のものがあります。 特長とメリット 2 軸ソリューション - 2 軸の平面鏡システムは、XY ステージアプリケーションにとって理想的なソリューションです。 高分解能 - 平面鏡システムは、反射鏡システムに比べて高い分解能が必要になるアプリケーションにも活用できます。 ...

製品を出展しましょう

& 当サイトからいつでも見込み客にアプローチできます

出展者になる