校正干渉計 VLM200

厚み測定用デジタルレーザー

精度の基準 レーザー干渉計をベースとした高精度の垂直測定機です。 精密フィルム、部品、ゲージの高さ、厚さを安心して測定できます。 当社独自のデジタル干渉計は、測定プローブの位置とヘリウムネオン（He-Ne）レーザー光源の波長を比較することにより、試料の寸法を測定します。特許を取得したレーザー光路は、測定軸と一直線上にあり、アッベ・オフセット誤差を排除します。 オペレーターはボタンまたはフットスイッチを押すだけで、あとは装置が行います。 Laseruler®の測定項目 -フィルム厚さ -光学部品 -ゲージブロック -ボール/球 -ボールベアリング -コーティング厚さ -コーティング厚さ規格 -プラグ＆ピンゲージ -スレッドワイヤー -航空宇宙部品 -自動車部品 -医療機器 Laseruler®の特徴と利点 -高剛性設計 - 最高の繰り返し精度と再現性 -モーター駆動プローブ - システムの安定性を向上させ、オペレーターの影響を排除 -デジタルレーザー干渉計 - 最高の分解能、トレーサビリティ、性能を保証します。 -2段階の校正 - 高度な時間節約機能により、わずか30秒で校正が可能です。2つのNISTトレーサブル・ブロックによるマスタリングにより、全直読範囲にわたって連続的に正確な測定が可能です。 これは、シングルポイント・コンパレータと比較した場合、かなり高いレベルの生産性を提供します。ブロックやボールなどのトレーサブルマスターは、ほんの一握りしか必要ありません（付属していません）。 -自動サイクル - 標準ゲージ・セットを測定する際の測定スループット率を高めます。