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... サブミクロン精度で信頼性の高い厚さ測定を実現する白色光干渉計 新しいIMS5200-TH白色光干渉計は、高速で信頼性の高い厚さ測定に新たな可能性を開きます。コントローラーはインテリジェントな評価を特徴とし、1 µmの薄さの透明層の正確な厚さ測定を可能にします。最大24 kHzの高速測定により、IMS5200モデルは工業用途に最適です。ナノメートル精度で1 µmの薄い層まで測定できます。 ...
... サブミクロン精度で安定した厚さ測定を実現する白色光干渉計 新しいIMS5400-TH白色光干渉計は、工業用厚さ測定に新たな展望を開きます。コントローラにはインテリジェントな評価機能が搭載されており、透明な対象物の厚み測定を最高の精度で行うことができます。 ...
... IMS5420-TH白色光干渉計は、単結晶シリコンウェーハの工業用膜厚測定に新たな展望を開きます。広帯域のスーパールミネッセントダイオード（SLED）を搭載しているため、IMS5420-THは、アンドープ、ドープ、高ドープのSIウェハーに使用できます。厚さ測定範囲は0.05～1.05 mmです。エアギャップの測定可能厚さは最大4 mmです。 半導体製造では、最高の精度が不可欠です。重要な工程はブランクのラッピングで、これによってブランクは均一な厚さになります。この厚みを連続的に制御するために、干渉計 ...
... 平行平板測定をよりシンプルに。表面が複数ある測定は、複雑な干渉縞が生じます。Verifire™ MSTは、特許取得済みの波長シフト技術を使用して、複数の表面から位相データを同時に取得します。 平行板ガラスの各表面、透過波面からの主な指標の他、全体の厚みのムラ (TTV)、ウェッジ、材料の不均一性などの正確な表面間情報を測定します。 Verifire™ MSTは、モバイルデバイスのディスプレイガラス、データストレージディスク、半導体ウェーハなどの要求の厳しいアプリケーションに対応し、0.5mmの薄いテスト部品の表面と厚みムラを正確に測定します。 ...
... 非球面光学系は、防衛・航空宇宙、半導体露光・検査装置、医療用画像システムなどの産業で使用されるイメージング、センシング、レーザーシステムの設計と実装に大きな利点をもたらします。 これらのアプリケーションをサポートする非球面の製造は、精密な計測に依存しています。 結局のところ、非球面光学部品に関して言えば、測定できないものは作れないのです。 Verifire Asphere+ (VFA+) は、フィゾー干渉計の利点を活かし、軸対称非球面に対して、高精度、高解像度、高速、フルアパーチャーのユニークな組み合わせの計測を提供します。 VFA+は、透過球を交換するだけで、様々な軸対称非球面を測定できる柔軟な測定プラットフォームを提供します。また、オプションのセカンダリーステージは、非対称自由曲面や軸外し非球面光学系に対応したコンピュータ生成ホログラム（CGH）をサポートし、非球面形状測定機能を拡張することができます。 NEW!ユーザーエクスペリエンスの向上に重点を置き、新しい測定のセットアップ、測定データと結果のナビゲート、生産上の問題の診断が簡単に行えるようになりました。Mx™ ...
... 入力: Q2レーザーRADARは、自動車、CMM、校正、OEM用途向けの高度な干渉計です。65の並列チャネルとマイクロスキャナーを備え、高精度の測定を提供します。計測グレードの精度と高密度データを実現します。最大50メートルまで測定可能で、オートフォーカスとアライメントおよびドキュメンテーション用のRGBカメラを備えています。 主な特徴: - 高速データキャプチャのための65の並列チャネル。 - 計測グレードの精度。 - 最大50メートルまで測定可能。 - 簡単なアライメントのためのオートフォーカスとRGBカメラ。 - ...
... 精度の基準 レーザー干渉計をベースとした高精度の垂直測定機です。 精密フィルム、部品、ゲージの高さ、厚さを安心して測定できます。 当社独自のデジタル干渉計は、測定プローブの位置とヘリウムネオン（He-Ne）レーザー光源の波長を比較することにより、試料の寸法を測定します。特許を取得したレーザー光路は、測定軸と一直線上にあり、アッベ・オフセット誤差を排除します。 オペレーターはボタンまたはフットスイッチを押すだけで、あとは装置が行います。 Laseruler®の測定項目 -フィルム厚さ -光学部品 -ゲージブロック -ボール/球 -ボールベアリング -コーティング厚さ -コーティング厚さ規格 -プラグ＆ピンゲージ -スレッドワイヤー -航空宇宙部品 -自動車部品 -医療機器 Laseruler®の特徴と利点 -高剛性設計 ...
... 概要
HORIZONはMarpossの次世代干渉計コントローラで、工業用途の精密測定向けに設計されています。ナノメートル精度の測定能力と柔軟な統合オプションを提供し、プロセス最適化、廃棄削減、品質管理の強化を支援します。
主な利点
- 高精度フィードバックによるプロセス最適化
- 不良品や手直しの削減
- ナノメートル解像度による品質管理の向上
- 多様な材料や形状に対応するセンサおよびインターフェースの柔軟性
用途
- 製造分野の精密測定（半導体、3C機器、EV部品等）
- ライン生産のインライン制御およびラボ検査
- 反射材や透明材の厚さ・表面測定
技術仕様
- 製品種別: