厚み測定用干渉計 interferoMETER 5200-TH

光学式白色光高精度

サブミクロン精度で信頼性の高い厚さ測定を実現する白色光干渉計 新しいIMS5200-TH白色光干渉計は、高速で信頼性の高い厚さ測定に新たな可能性を開きます。コントローラーはインテリジェントな評価を特徴とし、1 µmの薄さの透明層の正確な厚さ測定を可能にします。最大24 kHzの高速測定により、IMS5200モデルは工業用途に最適です。ナノメートル精度で1 µmの薄い層まで測定できます。