厚み測定用干渉計 interferoMETER 5400-TH

光学式白色光高精度

サブミクロン精度で安定した厚さ測定を実現する白色光干渉計 新しいIMS5400-TH白色光干渉計は、工業用厚さ測定に新たな展望を開きます。コントローラにはインテリジェントな評価機能が搭載されており、透明な対象物の厚み測定を最高の精度で行うことができます。