レーザー干渉計 SJ6000
三次元測定機用校正サブナノメーター変位測定用

レーザー干渉計 - SJ6000 - Chotest Technology Inc. - 三次元測定機用 / 校正 / サブナノメーター変位測定用
レーザー干渉計 - SJ6000 - Chotest Technology Inc. - 三次元測定機用 / 校正 / サブナノメーター変位測定用
レーザー干渉計 - SJ6000 - Chotest Technology Inc. - 三次元測定機用 / 校正 / サブナノメーター変位測定用 - 画像 - 2
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特徴

応用
平坦度測定用, 校正, サブナノメーター変位測定用, サブピコメーター変位測定用, 三次元測定機用
オプション
レーザー, 光学式, 高精度

詳細

1.高精度な測定が可能です。高精度環境補正ユニットにより、周囲温度、圧力、湿度、材料温度による測定結果への影響を排除します。レーザー熱周波数安定化制御システムの使用により、レーザーの長期周波数安定性を確保できます。 2.それは直線性、角度、直線性、垂直性および他の幾何学的な変数を測定できます; それは CNC の工作機械、座標測定機械および他の精密運動装置のためのガイド・レールの線形位置の正確さそして繰り返しの位置の正確さを測定できます; それはガイド・レールのピッチ角、振動角度、垂直性および直線性、さらにそれを工作機械の回転式軸線の目盛りを付けることができます測定することができます。 3.ユーザーによる補正設定により、工作機械の校正に必要な誤差補正テーブルを自動生成します。 4.動的測定(変位-時間曲線、速度-時間曲線、加速度-時間曲線)、振幅測定、周波数解析の機能により、工作機械の振動試験、ボールねじの動的特性、駆動システムの応答特性、ガイドレールの動的特性などの解析が可能です。 5.GB、ISO、BS、ANSI、DIN、JISなどの国内および国際規格を内蔵しています。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。