XRF分光器 M6 JETSTREAM

実験用工業用測定用

SDD サイズ 最速の取得のためのデュアルシリコンドリフト検出器オプション 80x60cm² スキャン可能な表面 1 回の実行で大きなサンプルをマッピングする 100-500 um 調整可能なスポットサイズ スポットサイズは、サンプルの構造に合わせて5つのステップで調整できます 大面積マイクロ-XRFにおける最先端の芸術解釈 大面積マイクロXRF法(マクロ-XRFまたはMA-XRFとも呼ばれる)は大型の絵画、地質サンプル、考古学的人工物および産業部品の分析のための決定的な方法となっています。M6 JETSTREAMは、これらの解析を最高速度および正確度に駆動します。M6 JETSTREAMは、モバイルホイールベースと調整可能なフレームを使用して、サンプルをラボに輸送する代わりにオンサイトで使用できます。 直立サンプルまたは水平面の測定 最大800 x 600 mm²のスキャン可能な領域 最高のマッピング速度のための「オンザフライ」分析 サンプルの構造に合わせて調整可能なスポットサイズ XFlash®最大2 x 60 mm²の検出器領域を備えたSDD技術 不均一な表面に焦点の深さを得るためにオプションの特許取得アパーチャーマネジメントシステム(AMS) M6 JETSTREAM から何が期待できますか? ほぼすべての表面の元素分布に関する空間的に解決された情報を取得する 1 回の実行で大きな面積のレコード データ取得 1 つの HyperMap データセットで、ピクセルあたりのフル スペクトルと高解像度の光学画像を組み合わせ可能 データを処理し、マップからオブジェクトスペクトル、ラインスキャン、化学相を抽出 ファンダメンタルパラメータ(FP)法を使用したスペクトルの定量分析 物流を回避し、貴重な物のセキュリティを確保することで、コストと時間を削減