XRF分光器 M4 TORNADO PLUS

実験用測定用

最も低い検出可能な元素 炭素から始まるすべての元素を測定可能 >6 ミリメートル AMS での焦点深度 アパーチャーマネジメントシステム(AMS)は、非平滑サンプルでも鮮明なX線画像を可能にします 0.5-4.5 ミリメートル 選択可能なコリメータサイズ 第二管球付属の4ポジションコリメーターチェンジャー Brukerのmicro-XRFファミリーの最新モデルを使用すると、XRFがこれまでに示したよりもサンプルについて詳しく知ることができます。 超軽元素検出器を備えたM4 TORNADO PLUSは、6番(カーボン)から95番（アメリシウム）まで任意の元素を測定できる最初のマイクロXRFスキャナです。さらに、すべての軽元素の感度が従来機に比べ大幅に向上します。 この装置では、Brukerは、不均一なサンプルの鮮明な元素マッピングのためのポリキャピラリーレンズの焦点深さを高める特許取得済みアパーチャーマネジメントシステム(AMS)を導入しました。オプションの第2のX線源は、4つの選択可能なスポットサイズを0.5mmから4.5mmに拡張します。 軽く、より速く、より深く。 M4 TORNADOファミリーのチャンバーは、He置換のためのオプションを提供しています。これはチャンバーの大気圧を維持している間軽元素の感度を高めます。生物学的または湿式試料中の軽い元素は、試料を凍結または乾燥させることなく分析することができます。 これまで十分な実績を持つM4 TORNADOファミリーが提供するすべての利点を継承し固体、粒子または液体の測定が可能です 炭素から始まる完全な元素範囲のスペクトル、ラインスキャンおよびマッピングを記録する機能と従来のマイクロXRFの経験を拡張します HyperMap データ キューブ内のピクセルごとの光学画像と完全なスペクトル情報の組み合わせを記録および保存します 2つのハイスループット超軽量元素対応SD検出器（液体窒素不要）を使用した、焦点を合わせたX線ビームの組み合わせにより、計測時間を短縮します 設定可能な基本的なパラメータルーチンで迅速な定量結果を得るか、標準サポート、完全標準ベースおよび層厚さの定量化のためのBrukerのXMethodソフトウェアを使用可能です アパーチャーマネジメントシステム(AMS)を使用して、焦点の高い深さで不均一なサンプルをマップします。 機器の全寿命を通じてアップグレードとサービスパッケージで将来パフォーマンスを向上できます