漏電試験機 FTI-1000 Lab

電圧高電圧電子部品用

概要 FTI-1000 Lab は、シリコン（Si）およびワイドバンドギャップ（GaN）中電力デバイス向けのDC専用キャラクタリゼーションプラットフォームです。1.2 kV、100 A までのプログラム可能な DC スティミュラスを提供し、静的電気パラメータの高精度抽出と高解像度の IV カーブトレースを可能にします。Lab 構成は専用の DC 計測機器（高電圧・高電流ソースモジュール、ナノアンペア測定、柔軟なバイアス機能）を採用し、AC や動的スイッチングの複雑さなしに幅広い IV スイープおよびパラメトリックテストをサポートします。FTI Studio は、迅速なセットアップ、波形キャプチャ、schmoo プロット、テストプログラム作成のための直感的なインターフェースを提供します。

用途

• 研究開発ラボ
• デバイス認証／適格性評価
• エンジニアリング検証・キャラクタリゼーションワークフロー

主な機能と最適化点

• 1.2 kV、100 A までのプログラム可能な DC スティミュラス
• 高電圧リーケージ、ブレークダウン、スレッショルド電圧、オン抵抗（Rds(on)）測定に最適化
• 安定で再現性の高い DC 供給と精密な測定制御
• モジュラーでスケーラブルなアーキテクチャ、ラボ向けに小さな設置面積
• 各種ディスクリートパッケージとワイドバンドギャップデバイスの解析をサポート

表形式仕様 テストサイト数: 1
DC パラメトリックテスト: Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss 等
サーマルダイアタッチ品質指標: dVsd/Vgs
寸法 D×W×H: 541 mm × 345 mm × 206 mm（電源: 345 mm × 176 mm × 103 mm）
デジタルチャネル: 8 独立デジタルチャネルオプション（IC Channel Board）
DC ソース電圧: 1.2 kV
電流ドライブレンジ（HV）: 25 mA（モジュール依存）
最大電流: 100 A
ゲート抵抗: 0、10、25、50 Ω、ユーザー差替え抵抗対応

ソフトウェア FTI Studio は迅速なセットアップ、波形キャプチャ、schmoo プロット、テストプログラム作成を行う直感的なインターフェースを提供し、デバイスのブリングアップから完全な特性評価への移行を高速化します。

技術仕様

• テストサイト数: 1
• 対応 DC パラメトリックテスト: Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss 等の IV/パラメトリック測定
• サーマルダイアタッチ指標: dVsd/Vgs
• 寸法: 541 mm × 345 mm × 206 mm
• 電源ユニット寸法: 345 mm × 176 mm × 103 mm
• 最大 DC 電圧: 1.2 kV
• HV 電流ドライブレンジ（モジュール依存）: 25 mA
• 最大電流能力: 100 A
• デジタルチャネル: オプションで 8 独立デジタルチャネル（IC Channel Board）
• ゲート抵抗オプション: 0、10、25、50 Ω およびユーザー差替え抵抗
• アーキテクチャ: ラボ向けに最適化されたモジュラーでスケーラブルな構成
• 対象デバイス: 中電力の Si デバイスおよびワイドバンドギャップ（GaN）デバイス
• ソフト機能: 波形キャプチャ、schmoo プロット、テストプログラム作成、迅速なセットアップ