高解像度ビームプロファイラ Beam Profiler 4M

カメラ型

概要
Edmund Optics® のビームプロファイラは、幅広いレーザービームサイズを測定し、レーザーシステムの最適化に必要なデータを提供します。高解像度センサーと大面積センサーを組み合わせ、小〜大ビームの正確なプロファイリングを実現します。複数のセンサーサイズが用意され、1" x 32 TPI（C‑Mount）ねじで光学系に簡単に取り付け可能です。外部トリガ入力によりパルスレーザーと同期でき、USB 2.0/3.0 による高速データ転送に対応しています。直感的なビーム解析ソフトウェア（2D/3D/XY表示、バックグラウンド差し引き、ガウスフィットなど）が付属します。

主な機能

• 小ビームの精密測定が可能な高解像度センサー
• 大ビーム対応の大面積センサーオプション
• パルスレーザー同期用の外部トリガ入力
• USB 2.0 / USB 3.0 対応インターフェース
• 標準光学取付け用の1" x 32 TPI（C‑Mount）ねじ
• 2D、3D、XY表示を備えた解析ソフトウェア付属
• ソフトウェア機能：バックグラウンド差し引き、ガウスフィット等

製品詳細（例：Edmund Optics Beam Profiler 4M）
波長範囲（nm）：350 - 1150
入力ビーム要件：最小 55 μm（10 x 10 ピクセル）
検出面積 H x V（mm）：11.3 x 11.3
ソフトウェア：USB付属。2D/3D/XY表示、バックグラウンド差し引き、ガウスフィットを備えた直感的なビーム解析ソフトウェア

注意
ソフトウェアドライバはメーカーのダウンロード提供あり。LabVIEW と互換性あり。

技術仕様

• 波長範囲（代表モデル）：350–1150 nm
• 最小測定可能ビームサイズ（例）：約 55 μm（10 x 10 ピクセル）
• 検出面積（例）：11.3 x 11.3 mm
• 取り付け：1" x 32 TPI ねじ（C‑Mount 互換）
• トリガ：パルスレーザー同期用外部トリガ入力
• インターフェース：USB 2.0 / USB 3.0 対応
• ソフトウェア：2D/3D/XY 表示、バックグラウンド差し引き、ガウスフィット等の解析機能
• サイズ展開：小〜大ビームをカバーする複数のセンサーサイズ