渦電流プローブ PP series
表面検査用非破壊試験

渦電流プローブ - PP series - Ether NDE - 表面検査用 / 非破壊試験
渦電流プローブ - PP series - Ether NDE - 表面検査用 / 非破壊試験
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特徴

物質的特性
渦電流
応用
表面検査用, 非破壊試験

詳細

ETher NDEは、社内で全ての渦電流(ECT)プローブを設計・製造しており、正確な非破壊検査(NDT)アプリケーションに合わせたプローブ設計が可能です。 最も一般的な渦電流(EC)ペンシルプローブが「在庫品」として入手可能なため、これらのプローブの迅速な納品をお約束することができます。 アブソリュート・ペンシル・プローブの主な特長 -強磁性金属および非鉄金属の高周波表面検査用。 -材料のエッジや垂直面の近くで使用するための二重シールド(質量効果)。 -デルリン・プラスチック、ネオプレーン・ラバー・リング、フィンガー・スカラップなど、快適で「ストレスのない」取り扱いを実現するビルド・マテリアルを採用。 -接続解除可能なマイクロドットコネクターにより、迅速な交換が可能。 -INBALプローブ付きロック式4ウェイLEMOコネクター。 -INBALプローブは内部にバランス荷重を備えており、セットアップを簡素化し、究極のS/N比を提供します。 -標準プローブ周波数が使用可能で、幅広い動作周波数に対応: 200khz(50~600khz)、 500khz(150k-1.5mhz)、 2mhz (650k-6mhz) 6MHZ (2-18MHZ) -すべての周波数(6MHZを除く)、標準および細めの先端サイズが入手可能。 -プローブは標準で固定寸法で提供されますが、他の多くの構成で供給することができます。

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カタログ

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。