位相配列プローブ 3.5L64-NW1検査用
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
特徴
- 技術
- 位相配列
- 分野
- 検査用
詳細
ニアウォール型プローブは、プローブ両端でのデッドゾーンが短くなっています(最初または最後の振動エレメントの中央部からハウジング端まで1.5mm)。複合材料の検査に適しており、C-スキャン検査(層間剥離、接着不良、ポロシティー)に使用されます。
特長
両端でのデッドゾーンが短くなる特長有り
• 複合材料の検査に適応
• C-スキャン検査(層間剥離、接着不良、ポロシティー)が可能
カタログ
この商品のカタログはありません。
EVIDENT – Inspection Technologiesの全カタログを見る見本市
この販売者が参加する展示会
全ての展示会を見る
EVIDENT – Inspection Technologiesのその他の関連商品
Phased Array Probes
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
DirectIndustry について
DirectIndustryは、B2Bの企業に製品調達から購入までの完全な体験を提供するマーケットプレイスです。DirectIndustryはVirtualExpo Groupの事業体です。