表面重量測定システム CHIPINSPECTOR

X 線パネル用産業用

-デュアルエナジーX線方式による確実な異物検出 -振動コンベアによる均一な材料供給 -精密なフラップによる異物除去で、良品の廃棄を最小限に抑えます。 一目で分かるメリット -品質の向上 -優れたパネル品質による顧客満足度の向上 -苦情の減少 -製品品質の向上 -材料費の削減 -不良品の減少 -最大55t/hの高い材料負荷 アトロ -生産コストの削減 生産コストの削減 -下流の設備への負担軽減によるメンテナンスの軽減 -研削盤の長寿命化 測定方法 デュアルエナジー方式を採用することで、すべての異物の99％を材料供給時に検出し、下流工程に到達する前に迂回させることができます。材料によって吸収特性が異なるため、木材やゴムなど、単位面積当たりの重量が同じ材料でも、この技術で確実に識別できるようになりました。 原材料の表面構造や含水率に関わらず、材料の流れの中の汚染を識別することができます。異物は、最大50mmの厚い材料層でも識別できます。切粉で覆われていても確実に検出されます。除振の前にゴム部品を確実に識別して迂回させることで、表面のゴム部品によってパネルが汚染されるリスクを大幅に低減することができます。