プローブカード SmartMatrix

SmartMatrix™ 3000XP は、モバイルおよびコモディティ DRAM、グラフィックメモリ（GDDR）、高帯域幅メモリ（HBM）、新興メモリデバイスの 300 mm フルウエハ・コンタクトテストを提供します。このプラットフォームは、高速設計と先進の製品ロードマップをサポートするために開発され、生産実績のあるMatrix™アーキテクチャを拡張し、1つのタッチダウンでウェーハあたり3000サイトを超えるプローブカードの並列化に対応しています。FormFactorの業界をリードするATRE（Advanced Tester Resource Enhancement）技術を活用し、125MHzのクロックレートと最大32個の共有グループ信号による高速テスト速度をサポートします。SmartMatrix 3000XPは、DRAM半導体の要件である-40˚Cから125˚Cまでのテストが可能です。 SmartMatrix 3000XPの高性能と短納期により、今日のDRAMや先端メモリ・デバイスの歩留まり最適化と市場投入までの時間短縮を実現します。