光学式粒度分析器 A-28
レーザー回折による動画像解析実験用

光学式粒度分析器 - A-28 - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - レーザー回折による / 動画像解析 / 実験用
光学式粒度分析器 - A-28 - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - レーザー回折による / 動画像解析 / 実験用
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特徴

技術
レーザー回折による, 光学式, 動画像解析
応用
実験用, 研究用
その他の特徴
粒子形状

詳細

乾湿両用FRITSCH A-28は、粒子形状と粒子径の両方について正確で再現性のある測定結果を必要とするあらゆる用途に最適なパーティクルサイザーです。動的画像解析の光学プロセスにより、広い測定範囲、複数の形状パラメータ、粒子径の評価可能性を提供します。測定時間はサンプル量にもよりますが、5分以内です。測定結果はすぐに得られます。 お客様の利点品質管理、研究、実験室における5 µm~20 mmの粒子径のさまざまな測定タスクに柔軟に対応。 懸濁液やエマルションの湿式測定が容易 A-28は、実質的にメンテナンスフリーの新しい湿式分散ユニットと組み合わせることで、懸濁液やエマルションの粒子形状や粒子径の測定に最適です。 湿式分散は、水や他の液体中で反応しない微粒子、流動性の悪いもの、凝集性の高いもの、粘着性の高いものに特に適しています。 粉体やバルク固体の効率的な乾式測定 A-28 は、流動性のある乾燥した試料の粒子形状と粒子径を迅速に分析する理想的なパーティクルサイザーです。粒子形状と粒子径の光学分析により、損傷粒子、汚染粒子、凝集粒子、過大粒子、過小粒子を正確かつ迅速に識別し、1枚の画像で簡単に確認できます。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。