レーザー回折による粒度分析器 A-22 NeXT Micro
光学式静的光散乱品質管理用

レーザー回折による粒度分析器 - A-22 NeXT Micro - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - 光学式 / 静的光散乱 / 品質管理用
レーザー回折による粒度分析器 - A-22 NeXT Micro - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - 光学式 / 静的光散乱 / 品質管理用
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特徴

技術
レーザー回折による, 光学式, 静的光散乱
応用
品質管理用
その他の特徴
自動, 高性能

詳細

自動粒度分布測定:比類のないシンプルさと手頃な価格 全面的に改良されたA-22 NeXT Microの測定範囲は0.5~1500μmで、あらゆる典型的な測定作業に最適です。インテリジェントな測定設計により、A-22 NeXTは特にコンパクトで省スペースです。測定時間はほとんどの測定で1分以内です。 特に簡単な操作とクリーニング、短い分析時間、信頼性の高い再現性のある結果、湿式分散中の温度やpH値などの追加パラメータの記録など、あらゆる決定的な利点を得ることができます。 典型的な応用分野 A-22 NeXT Microは、生産管理、品質管理、研究開発、製造工程の管理など、特に効率的な粒度分布測定に最適です。 利用可能なモジュール モジュール 乾式分散ユニット 高さ調節可能な漏斗とステンレス製の攪拌機により、試料に合わせた最適な試料供給が可能です。 モジュール 湿式分散ユニット 強力な遠心ポンプにより、試料を素早く均一に分散します。 超音波ボックス 凝集しやすい試料を頻繁に測定する場合に最適です。 モジュール pH測定 分散液のpH値を簡単かつ継続的にモニターすることで、ゼータ電位よりもはるかに効果的に変動をカバーします。 モジュール 優れた耐薬品性 ベンゼンやヘキサンのような侵食性の強い有機溶媒を使用しても、問題なく測定できる特別なコンバージョンキットです。

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カタログ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。