光学式粒度分析器 A-22 NeXT

レーザー回折による静的光散乱実験用

パーティクルサイザー A-22 NeXT - 極めてシンプルな自動粒度分布測定機 A-22 NeXTの2機種は、生産管理、品質管理、研究開発、製造工程管理における効率的な粒度分布測定に最適です。 両機種は設計と測定範囲が異なります。 A-22 NeXT Microは、光源と検出器を1つにし、0.5～1500 μmを堅牢かつ確実に測定します。 A-22 NeXT Nanoは追加検出器システムのインテリジェントな配置により、低い測定値を拡大します。これにより、0.01μmまでさらに大きな散乱角の記録が、後方だけでなく側方でも可能になります。同時に測定上限値も3800μmまで拡大しました。 簡単な操作とクリーニング、短い分析時間、再現性の高い分析結果、湿式分散中の温度やpH値などの追加パラメータの記録など、お客様のご要望に応じたモデルで、決定的なメリットをすべて得ることができます。最先端技術を圧倒的な価格で。巧妙に作られています！