SIL2 HART® 絶縁ドライバ
X1-NIS-AO-02 モジュールは、高リスク産業の安全関連システムで SIL 2 レベルを必要とするアプリケーションに適した高信頼性のアナログ出力インターフェースです。安全エリアに設置されたコントローラからフィールド負荷への 4-20mA 信号を絶縁して伝送します。回路は HART® スマートポジショナ用の双方向通信信号をサポートしています。ラインおよび負荷の開放/短絡検出機能を備えており、フィールドの故障は PLC AO カードに開放回路として直接反映され、共通故障ラインに報告されます。メンテナンスを容易にするために、フィールドデバイスは二位置プラグインメカニズムを介して切断できます。この製品には専用の端子板が必要です。
- SIL3/SC2
- ゾーン 2 / ディビジョン 2 に設置
- メンテナンスを容易にするためのループ切断
- HART® 互換
- ラインおよび負荷の短絡/開放回路のプログラム可能な診断
- プログラム可能なしきい値を持つ範囲外の故障
- DCS/PLC IO カードへのフィールド故障のミラーリング
- 高精度
- ポート絶縁:入力/出力/電源
技術仕様:
- 電力損失: 典型的な 0.75 W @ 24 Vdc, I/P 出力 20 mA。
- システム供給: 名目 24 Vdc (18 から 30 Vdc)。
- 電流消費量: 典型的に I/P 出力で 30 mA, 20 mA @ 24 Vdc。
- システム入力: タイプ: 電流 4-20mA。入力故障インピーダンス: 16 kΩ @ 24 Vdc (入力電流 1.5 mA), 典型的。
- フィールド出力: タイプ: 電流 4-20mA + HART。最大負荷: 600Ω。応答時間: 5 ms。
- 故障: タイプ: 電圧、電流、抵抗のプログラム可能な制限を持つ負荷短絡/開放。故障信号: DCS/PLC IO 上の共通故障および故障ミラーリング。
- 性能: 参照条件: 24 V 供給、250 Ω 負荷、23 ± 1 °C 環境。校正精度: ≤ ±20µA。直線性精度: ≤ ±20µA。温度影響: ≤ ±2µA/°C。
- 絶縁: 試験電圧: フィールド出力/システム入力 2.5 kV、フィールド出力/システム供給 2.5 kV、システム入力/システム供給 500 V。
- 環境条件: 動作温度: -40 から +70 °C。保管温度: -45 から +80 °C。
- 取り付け: カスタム端子板に取り付け。重量: 約 50g。寸法: 幅 10mm、奥行き 80mm、高さ 120mm。