蛍光分光器 X-RAY XDV®-µ

蛍光X線研究所用測定用

FischerのFischerSchope® XDV®-Μはpolycapillary X線の光学と統合されるX線蛍光性計算システムである。 この光学単位は自動化された測定の適用のために一般に利用される。 それはまた密集した材料および構造のコーティングの厚さそして構成の一般的な評価のために使用される。 適用の共通フィールドはFischerSchope® XDV®-Μ含んでいるパソコンボード、leadframes、ウエファー、薄いワイヤー、および多くを使用することができる。 FischerSchope® XDV®-Μは分析関係した特徴の広い範囲を表わす。 これは最適化機能によって微量分析システムを、100-µmのまたはより少ない分析の機能および広範囲の強さのレベル含んでいる。 それはまたa < 1nm測定不確実性率特色になり、測定の部屋は排気切替器の部分(Cスロット)と競う。