光学式偏光計

モジュラー

ハインズ社のストークス偏光計システムは、光ビームや光源の偏光状態を比類のない感度で測定することができます。堅牢で洗練された技術により、当社のデュアルPEMストークス偏光計は、4つの正規化ストークスベクトルすべてを1回の測定で定量化し、可動部品は一切ありません。デュアルPEMストークス偏光計の優れた感度、再現性、簡単な操作性により、このシステムは光学部品の特性評価、天文学、光ファイバーの研究・製造、レーザーの品質管理などの難しいアプリケーションに非常に有効です。 研究用グレード 可動部なし 不正確でノイズを発生させるローテーターがない 高速変調（> 40 kHz） 高速 > 100以上の正規化ストークスパラメーターセット/秒 瞬時の完全なデータ取得と表示 測定する光は、レーザー、ファイバー、広帯域光源、太陽や星などの天体からのものです。このシステムは、正規化されたストークスパラメータの各値と、ポアンカレ球上の位置を測定し、瞬時に表示します。また、DOP、DOLP、DOCPも表示されます。 このターンキーシステムには、光学モジュール、電子モジュール、ソフトウェアパッケージ、モニター付きPCが含まれています。光学モジュールは、2つの光弾性変調器（PEM）を含み、1回の測定で4つのストークスパラメータをすべて生成します。単一波長測定用や分光測定用など、さまざまな標準オプションが用意されています。可視、近赤外、赤外、DUVの各波長帯に対応したシステムを用意しています。ソフトウェアパッケージは、波長を変えてもPEMを較正できるように設計されており、光ファイバー入力も可能です。