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出力試験機

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特徴

試験の種類
出力

詳細

パワーモジュール、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)、Diodeなどの各種静特性を常温~高温で測定し、良否判定を行います。 検査(測定)対象:IGBT、IPM、P-MOS TET、SiC、GaN、Diode等 検査装置特徴:超低Ls(ストレーインダクタンス)を実現

見本市

この販売者が参加する展示会

The Advanced Materials Show

15-16 5月 2024 Birmingham (イギリス)

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。