Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 :計測・実験 - DirectIndustry

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立

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Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

走査型透過電子顕微鏡 SU9000II

分析用研究用 BF-STEM

電界放出形走査電子顕微鏡 SU8700

分析用床置きショットキー電界放出

電界放出形走査電子顕微鏡 SU8600

分析用 3D 冷陰極電界放出

電界放出形走査電子顕微鏡 SU7000

分析用 BF-STEM DF-STEM

電界放出形走査電子顕微鏡 SU5000

分析用 3D インサイチュ

走査型電子顕微鏡 SU series

表面粗さ測定用分析用研究用

走査型電子顕微鏡 FlexSEM 1000 II

分析用素材検査用非金属介在物検査用

走査電子顕微鏡 TM4000 series

分析用測定原子番号コントラスト

EDX分光器 Quantax75

分析用産業用研究開発用

X線分光器 Element series

EDX 元素分析用卓上

EDX分光器 AZtec series

分析用金属分析用鉱山用

測定用ソフトウェア HitachiMap 3D

可視化産業用実験用

STEM顕微鏡 HF5000

素材研究用素材分析用計測学用

透過型電子顕微鏡 HT7800 series

研究用バイオ医療用明視野式

電子顕微鏡 NP6800

分析用測定高解像度

電子顕微鏡 NE4000

分析用冷陰極電界放出 CCD

粒子径分析装置ソフトウェア AMICS

鉱業用顕微鏡用化学反応

Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM)

集束イオンビームプローブ NX5000

集束イオンビームプローブ NX9000

集束イオンビームプローブ NX2000

集束イオンビームプローブ MI4050

自動標本準備システム

走査型電子顕微鏡用

Sample Preparation

自動標本準備システム MC1000

走査型電子顕微鏡用イオンスパッタ

自動標本準備システム ZONESEMⅡ

走査型電子顕微鏡用掃除用

自動標本準備システム IM4000II

走査型電子顕微鏡用イオンビームミリング

自動標本準備システム ArBlade 5000

走査型電子顕微鏡用イオンビームミリング

自動標本準備システム ZoneTEM II

走査型電子顕微鏡用掃除用

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