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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立

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素材研究用顕微鏡 HF5000

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分析用顕微鏡 HD-2700

走査型透過電子デジタルカメラ高解像度

研究用顕微鏡 HT7800 series

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イメージングソフトウェア AMICS

学文字認識走査電子自動

Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM)

分析用顕微鏡 NX5000

集束イオンプローブ付走査型電子高解像度

分析用顕微鏡 NX9000

集束イオンプローブ付走査型電子 3D リアルタイム

分析用顕微鏡 NX2000

集束イオンプローブ付走査型電子コンピューター制御

Sample Preparation

イオンビーム式フライス盤 ArBlade 5000

3軸フライス盤 IM4000Plus

高精度イオンビーム式

走査型電子顕微鏡用標本準備システム

走査型電子顕微鏡用標本準備システム ZoneTEM

イオンスパッタ源 MC1000

Dry Etch Systems

プラズマウェーハエッチングマシン

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プラズマウェーハエッチングマシン M-8000 Series

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ECR プラズマ彫刻機 M-600/6000 Series

EMCP プラズマ彫刻機 E-600/8000 Series

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EMCP プラズマ彫刻機 E-6000 Series

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CD-SEM検査機 CD-SEM CG5000

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