Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 :計測・実験 - DirectIndustry

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立

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Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

走査型透過電子顕微鏡 SU9000 II

分析用研究用 BF-STEM

電界放出形走査電子顕微鏡 SU8700

分析用床置きショットキー電界放出

電界放出形走査電子顕微鏡 SU8600

分析用 3D 冷陰極電界放出

電界放出形走査電子顕微鏡 SU7000

分析用 BF-STEM DF-STEM

走査型電子顕微鏡 SU3800/3900 Family

表面粗さ測定用分析用研究用

走査型電子顕微鏡 FlexSEM II

多目的分析用非金属介在物検査用

走査電子顕微鏡 TM4000PlusIII

測定分析用トポグラフィー

STEM顕微鏡 HF5000

素材研究用素材分析用計測学用

透過型電子顕微鏡 HT7800 Series

研究用バイオ医療用明視野式

電界放出形走査電子顕微鏡 SU3800SE/SU3900SE

多目的スチール検査素材検査用

Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM)

集束イオンビームプローブ NX5000

集束イオンビームプローブ NX9000

集束イオンビームプローブ NX2000

Sample and Cross-Section Preparation

自動標本準備システム ZoneSEM Ⅱ

研究所用走査型電子顕微鏡用掃除用

自動標本準備システム IM4000 II

走査型電子顕微鏡用イオンビームミリング冷却

自動標本準備システム ArBlade 5000 / IM5000-CTC

走査型電子顕微鏡用イオンビームミリング冷却

自動標本準備システム ZoneTEM II

走査型電子顕微鏡用掃除用卓上型

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