分光学エリプソメータ iSE

iSEは、薄膜加工のリアルタイムモニタリングのために開発された新しいin-situ分光エリプソメーターです。 iSEは、当社の実績ある技術を用いて、蒸着膜の光学特性の最適化、サブオングストロームの感度での膜成長の制御、および成長速度のモニタリングを可能にします。 パワフル スペクトロスコピックエリプソメトリー（SE）のパワーにより、iSEは他の技術に比べてはるかに高い信頼性で膜厚と光学特性を測定することができます。 Compact 新設計のコンパクトなデザインにより、あらゆるチャンバーに簡単に組み込むことができます。 多彩な機能 金属、半導体、酸化物、窒化物など、さまざまな薄膜の厚さや光学特性を正確に測定できます。 手頃な価格 スペクトロスコピックエリプソメトリーの性能をリーズナブルな価格で提供します。 簡単な操作性 ユーザーフレンドリーなインターフェースで、薄膜の成長やエッチングをリアルタイムに解析できます。