LD SERIES低圧手動ダイヤフラムバルブ概要半導体、試験室、産業プロセス向けに設計された、低圧での高純度・超高純度ガス制御用の手動ダイヤフラムバルブ。用途例:ガス配分、パージ、サンプリングなど、流路内のトラップ低減と微粒子発生の抑制が求められる工程。
ボディ- 超高純度用途向けの316L VIM-VARステンレス鋼製ボディ。
- 内面粗さはRa 5 μinまで可能で、流路の完全洗浄が可能。
- トラップ部位を最小化する設計により、パージが容易で流量特性を最大化。
ダイヤフラム- ダイヤフラム材質:Hastelloy C-22またはコバルト系超合金(UNS R30003)を採用し、耐力と耐食性を確保。
- サイクル寿命を考慮した最適設計。
シート- PCTFE完全封入シート設計により膨潤や汚染に対する耐性を提供。
- ヘリウムリーク試験特性の向上、微粒子発生の最小化、長寿命運用。
- 半導体/高純度ガス用途に適した高清浄度での組立て・梱包。
- 出荷前に全ユニットでヘリウムリーク試験を実施。
技術データ製品ページに寸法図や流路図などの技術図面とデータを画像で掲載しています。
製品寸法寸法(ミリメートル)は参考値です。詳細寸法は製品図面を参照してください。
流路形状低トラップで高純度を実現する流路と内部形状を、製品画像で示しています。
注文情報製品ページの画像に標準注文仕様を表示しています。その他の仕様やモデルもご用意しています。
技術仕様- シリーズ:LD SERIES(低圧手動ダイヤフラムバルブ)。
- ボディ材質:316L VIM-VARステンレス鋼。
- 内面粗さ:Ra 5 μinまで可能。
- ダイヤフラム材質オプション:Hastelloy C-22またはコバルト系超合金(UNS R30003)。
- シート:PCTFE完全封入シート設計。
- 性能:トラップ部位を最小化し、パージを容易にし、流量を最大化する設計。
- 清浄度:半導体/高純度ガス用途に適した高清浄度の組立てと梱包。
- 品質管理:出荷前にヘリウムリーク試験を実施。
- ドキュメント:寸法図および流路図を製品ページの画像で提供。