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光学式粒度分析器 Winner7302
プロセス

光学式粒度分析器
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特徴

技術
光学式
応用
プロセス

詳細

Winner7301は、生産ラインを移動する乾燥したナノ粒子の粉体をリアルタイムで計測します。これは、産業界における粉砕、ふるい分け、その他の手順を制御するために特に重要です。 主な特徴 原理。異なるサイズの粒子は、照射されたレーザーを異なるパターンに散乱させます。この装置ではHe-Neレーザーが照射され、光子検出器アレイが前方、側方、後方への散乱レーザーを測定します。そのパターンをソフトウェアが自動的に粒度分布に変換する。 新しい技術。特許取得済みの収束光のフーリエ変換技術、スペクトル増幅技術、垂直な光路の設計を使用しています。フォトンディテクターアレイは、前方、側方、後方への散乱レーザーを測定します。これにより、ナノ粒子から得られる測定結果の精度と再現性を確保しています。 制約のないデータフィッティングプログラム:粒子解析ソフトウェアは、未知の粒度分布をインテリジェントに測定するために当社が開発した独自の制約のないデータフィッティング技術を使用しています。これは、材料研究者や、データに複数のピークがある粒度分布を測定する場合に特に重要です。 サンプルチャンバー独自に設計したサンプルチャンバーにより、測定精度が向上しました。 仕様 モデル Winner7302 測定範囲 0.05~40μm チャンネル数 79 実行規格 ISO13320,GB/T19077.1-2008,Q/JW001-2006 精度誤差 <5%(標準試料)

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。